超高分辨散射式近場光學顯微鏡 - neaSNOM系統
neaSNOM是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了化的散射式核心設計技術，極大的提高了光學分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內，提供優于10nm空間分辨率的光譜和近場光學圖像。由于其高度的可靠性和可重復性。neaSNOM業已成為納米光學領域熱點研究方向的科研設備，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。
技術特點和優勢：
•neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產品
•保護的散射式近場光學測量技術
——的10 nm空間分辨率
•的高階解調背景壓縮技術
——在獲得10nm空間分辨率的同時保持的信噪比
•保護的干涉式近場信號探測單元
•的贗外差干涉式探測技術
——能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像
•保護的反射式光學系統
——用于寬波長范圍的光源：可見、紅外以至太赫茲
•高穩定性的AFM系統，
——同時優化了納米尺度下光學測量
•雙光束設計
——的光學接入角：水平方向180°，垂直方向60°
•操作和樣品準備簡單
——僅需要常規的AFM樣品準備過程
超高分辨散射式近場光學顯微鏡原理介紹和功能介紹視頻：
重要應用領域：
