超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀特點：
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀應用廣泛：(a) 太陽能光伏薄膜領域-aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe；(b) LCD, FPD領域-ITO, Cell Gaps, Polyamides；(c) 光學薄膜領域-介質濾波器，加硬膜，減反射膜；(d) 半導體和電解質領域-Oxides, Nitrides, OLED stack
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀即時測量和數據分析
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀強大的數據庫：已經有了500多種常用的材料參數，新的材料也容易添加，并能根據需要添加相應的材料特性參數-Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀連接方便，使用自如：不管實在實驗室獨立使用，還是在研發或者是工廠連續生產中不間斷在線持續監測膜層厚度，都能在10分鐘內完成安裝，與電腦或是網絡的連接十分方便
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀測量數據完整：除了膜層的厚度，還能測量光學參數和表面平整度
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀使用人性化，功能強大：一鍵式操作即可完成膜層厚度測量和分析；強大的工具-仿真功能，內部自我糾正，多樣品測量，動態監測和產品批量監測.
| 產品尺寸 | 8″x 4″x10″ |
| 測量精度 | <0.01nm or 0.01% |
| 穩定性 | <0.02nm or 0.03% |
| 光斑尺寸 | 2mm to 3um |
| 樣品大小 | 可以小至1 mm |
| 測量范圍 | 1 nm - 1000 um |
| 波長范圍 | 200nm -8000nm |
