Nanosurf LensAFM鏡頭式原子力顯微鏡
擴展您光學顯微鏡的分辨率
Nanosurf LensAFM 是一個當光學顯微鏡和輪廓儀達到其分辨率極可以幫您繼續探究的原子力顯微鏡。它可以像常規物鏡一樣安裝，從而無縫擴展了這些光學儀器的分辨率和測量能力。 LensAFM不僅提供3D表面形貌信息，還可用于分析被測樣品的各種物理特性。
用你常用的儀器進行AFM測量
在越來越多的情境下，研究人員希望結合光學和原子力顯微鏡技術。光學顯微鏡的易用性，篩選能力和（無）樣品制備要求幾乎是的。然而，有時目標放大100倍的是不夠的，您想更仔細地觀察一些超出儀器分辨率的微小特征。在常規實驗室環境中，您需要兩個專用儀器，并且有必要將樣品從一個設備轉移到另一個設備。 使用LensAFM則不必如此。憑借其極小的設計和巧妙的安裝機制，您需要做的就是旋轉光學顯微鏡或輪廓儀上的轉盤并運行掃描。
LensAFM將地集成到您的工作流程中：將其安裝在光學顯微鏡的轉盤上 - 就像常規物鏡一樣 - 您可以使用正常物鏡選樣品以找到感興趣的區域。隨后，使用集成的8倍光學鏡頭可以再次定位該區域，然后您可以執行AFM測量以獲得更高分辨率的3D信息：以您慣有的方式工作，分辨率和功能卻得到極大提升。
LensAFM具有快速卸載機制，可輕松地將LensAFM安裝到轉臺和從轉臺卸下。可調安裝保證您可以以高于10μm的精度更換它。芯片安裝座上的對準凹槽還可確保下一個微懸臂的位于相同位置的4μm范圍內，即使在微懸臂更換后也能再次回到相同的特征值。由于這些對準凹槽，您甚至不需要在微懸臂上執行激光對準，從而節省了額外的時間。
LensAFM 為您的光學顯微鏡帶來了所有這些測量功能，無需重新思考一整個新的工作流程。觀看視頻，了解提升您的顯微能力是多么容易。
提升光學顯微鏡的能力
由于光學顯微鏡的分辨率受光的波長限制，因此光學系統在可實現的分辨率上有一個極限。在越來越多的應用中，就需要光學和原子力顯微鏡的組合。此外，AFM可以無障礙表征透明樣品或其他難以光學評估的樣品。且不僅僅是樣品的形貌：AFM還允許獲得其他材料特性的知識，例如，表面粗糙度，硬度變化，磁性或電導/電阻。
LensAFM 成像模式
以下描述為儀器所具備的模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項。詳情請瀏覽產品手冊或直接聯系我們
標準成像模式
靜態力模式
動態力模式(輕敲模式)
相位成像模式
電性能
導電探針 AFM (C-AFM)
壓電力顯微 (PFM)
靜電力顯微 (EFM)
開爾文探針力顯微(KPFM)
掃描擴散電阻顯微 (SSRM)
磁性能
磁力顯微
機械性能
力調制
力譜
力映射
其他測量模式
刻蝕和納米操縱
LensAFM 應用示例
LensAFM /光學平臺組合提供了一個互補的成像系統，極大地擴展了這些儀器單獨的分辨率和測量能力，如下面的三張圖所示
相同區域由LensAFM的內置8倍物鏡觀察到的光學視圖。 AFM微懸臂在光學圖像中可見，允許在測量之前容易地定位樣品。
由LensAFM記錄的同樣缺陷的AFM形貌。該區域的三維數據清楚地識別出該缺陷為涂層上的一個洞，部分被碎屑填充。
