主要特色：
Ø 適用于燒機與老化測試
Ø *多達800通道同時測試
Ø *高達40 安培電流輸出
Ø *高達150度 溫度控制
Ø 操作員利用Carrier放置待測物
Ø Change Kit 設計供測試種類不同待測物
詳情：
燒機-可靠度&老化測試
致茂58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU，溫度控制與可符合不同光電半導體。可供發光二極體，雷射半導體，光電偵測器與其他半導體使用。 每個模組*高可測試80組獨立SMU，可提供待測物電流與偏壓并量測之。
電流源
Ø 每片獨立的電流電壓卡SMU可提供五種不同的電流等級，由5Amp 到20 與40Amp. 獨立的電壓量測可供高串聯數的待測物測試于高電壓等級. 多組的電流源也可藉由并聯形式提高電流的輸出能力。
Ø 高彈性化設計
致茂使Conversion Kit由半導體轉換到光電半導體使用。應用Conversion Kit于58601燒機測試可以擁有以下的優點:
- 高密度通道
- 高電流輸出
- 光電流監控
- 監控量測光電半導體
- 暗電流量測
- 提供偏壓
- 獨立電壓量測
- Bypass of Failing Devices
- 符合各種雷射光電半導體
高效率運作
- 提供高溫控制，降低老化時間與較少的通道，同時可降低成本，提供快速結果
- 高密度設計降低使用空間，優于其他設計
- 通過制造商進行批量測試，Carriers可用于燒機測試與特性測試，軟體可主動追蹤資料于燒機與特性測試
- 在利用Change kit 的設計，在相同基礎設備下可快速切換供不同種待測物使用，待測物降低成本
- 精細的probing 方式可提供次系統與高單價包裝待測物
- 熱插拔電源模組降低故障機率于MTBF/MTTR測試
選購附件：
| Model | Description |
| 58601 | 光電激光半導體燒機測試系統 |
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