| 一、產(chǎn)品概述(AZ530-H) AZ530是探測射頻電磁場的理想工具包。在產(chǎn)品發(fā)展階段，交于第三方進行測試之前，它是電磁干擾預認證測試的手段。全套包括3個手持探頭，其內(nèi)裝有E探頭前置放大器，可用頻率范圍從100kHz到超過1000MHz。這些探頭包括1個磁場探頭，1個電場探頭和1個高阻抗探頭，都與頻譜儀或射頻接收機的50Ω輸入阻抗相匹配。其供電可用電池，鎳鎘電池或通過電源線從頻譜儀送來。信號送出是通過1.5米BNC電纜。當與頻譜儀或測量接收機連用時，探頭可以找出或劃定電磁干擾源，同樣可評估電路板和樣機電磁兼容問題。幫助使用者估計發(fā)射場以及加屏蔽后的性能比較。也可進行對電纜和組件的機械屏蔽性能和兼容性測試。 二、技術(shù)參數(shù) ·頻率范圍 0.1~1000MHz（更低的頻率極限取決于探頭） ·輸出阻抗 50Ω ·插座 BNC ·輸入電容 2pF(高阻抗探頭) ·*大輸入電平 ±10dBm(依賴頻率范圍) ·直流輸入電壓 20Vmax ·供電 6VDC,4節(jié)AA電池，頻譜儀供電 ·供電電流 8mA(磁場探頭) 15mA(電場探頭) 24mA(高阻抗探頭) ·探頭尺寸 195×40×19 （L×W×H）mm ·外殼 塑料（內(nèi)部電屏蔽） 三、功能介紹 高阻抗探頭(Hi－Z)可以測量個別接點或印制板線路板導體，直接接觸來檢測射頻干擾（RFI）情況。直接接觸式探頭，有很高的阻抗(接近印制板的絕緣電阻)，對電路的測量點的負載只有僅2pF(1GHz時80Ω)，所以它可以與電路直接接觸而不給電路帶來明顯的影響。所以可以對線路板上個別點加以測試，例如：可以定量地測量濾波器或其它隔阻性電路。個別的IC腳可認為是射頻干擾之源。通過這個高阻探頭，至電路的測量點，探頭的輸出是低阻抗可聯(lián)接至頻譜儀的50Ω輸入端。 |
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