品牌: | 日立 |
日立手持光譜儀XRF合金分析儀X-MET8000將日立分析儀器的高性能X光管和大面積硅漂移探測器(SDD)地耦合在一起,其速度和性能可滿足市場上的金屬分析應(yīng)用需求。
X-MET8000 Smart日立手持式合金分析儀是金屬回收、材料可靠性鑒定(PMI)、制造行業(yè)中QA/QC、鍍層分析、貴金屬及珠寶分析、三元催化的理想工具。
性能優(yōu)勢
•快速開機,簡單“對準即測”的操作,使用方便。
•直觀的大圖標式用戶界面:操作員幾乎不需任何培訓(xùn)。
•大面積4.3英寸彩色觸摸屏,即便在陽光直射下也能清晰地看到檢驗結(jié)果,戴上手套也不受影響。
•小巧的儀器頭部:可輕松檢測彎曲及拐角部位(如焊縫)。
•符合IP54等級(相當(dāng)于NEMA3)防護標準,具有防塵與防水性能,能夠適應(yīng)惡劣的工作環(huán)境。
•外殼、屏幕、探頭及電池周圍均采用環(huán)保密封和減震橡膠,耐沖擊設(shè)計。
•可快速更換防護窗口膜:無需任何工具即可快速更換已損壞或玷污的窗口膜。
•出眾的元素(從Ti到U)精確分析,提供準確的牌號鑒定,確認金屬合金價值。
•快速分析和準確的牌號鑒定:數(shù)秒內(nèi)出檢驗結(jié)果,減少實驗室測試,降低成本,縮短時間;
•具有低的檢出限,可完成精確的微量/夾入元素分析。
•可按客戶要求定制檢驗結(jié)果模式,以便于快速作出判斷:即顯示您所需重要信息,例如合**號、元素成分、合格/不合格通知,以及元素的顯示順序,以便于快速決策。
•重量輕(1.5公斤)、體積小,符合人體工學(xué)設(shè)計,電池續(xù)航時間長達8至10小時;
•預(yù)裝齊全牌號庫(美標AISI、德標DIN、日標JIS和 國標GB牌號庫,共合1600多合金),用戶也可新增加牌號庫。
•樣品尺寸和形狀自動補償,可準確測試直徑低至1mm的管材、桿材、線材、焊縫、緊固件、車削屑和碎屑等。
技術(shù)參數(shù)
X-MET8000 Smart | |
說明 | 對常用合金進行快速分揀的明智之選 |
X光管 | 50千伏(限制40千伏) |
X光管過濾器 | 單個過濾器 |
探測器 | 大面積硅漂移SDD探測器 |
元素范圍 | 鈦- 鈾 |
可測元素 | 鈦(Ti),釩(V),鉻(Cr),錳(Mn),鐵(Fe),鈷(Co),鎳(Ni),銅(Cu),鋅(Zn),砷(As),硒(Se),釔(Y),鋯(Zr),鈮(Nb),鉬(Mo),鈀(Pd),銀(Ag),鎘(Cd),銦(In),錫(Sn),銻(Sb),鉿(Hf),鉭(Ta),鎢(W),錸(Re),銥(Ir),鉑(Pt),金(Au),鉛(Pb),鉍(Bi)共30種元素。 |
IP54等級 | 是 |
保護探測器窗口不受損壞 | 防軋膜窗口膜 |
校準 | 無標樣FP基本參數(shù)分析法 |
藍牙 | 包含 |
WiFi | 包含 |
集成攝像頭 | 可選件 |
報告生成器 | 包含 |
應(yīng)用領(lǐng)域
一、金屬回收
X-MET8000 Smart是用于廢金屬回收分析的理想分析儀。日立手持式X 射線熒光光譜儀(XRF)可現(xiàn)場進行快速的合金分析與鑒定,已在廢料場上得到了廣泛應(yīng)用。
二、材料可靠性鑒定(PMI)
日立手持光譜儀X-MET8000 Smart是理想的材料可靠性鑒定(PMI)和質(zhì)量控制工具。
操作人員和維修人員可用日立手持式X 射線熒光光譜儀(XRF)現(xiàn)場對關(guān)鍵,工序部件進行快速、無損的牌號鑒別和元素分析,由此減少由于關(guān)鍵部件故障而引發(fā)的嚴重安全事故,從而提高使用過程中的安全性。
三、生產(chǎn)制造QA/QC
日立手持光譜儀X-MET8000 Smart是一款能在生產(chǎn)過程中完成無損檢測的理想質(zhì)量控制分析儀。日立手持光譜儀(XRF)是用于質(zhì)量控制檢驗的工具,因為這種分析儀簡單易用,能夠在現(xiàn)場提供快速的無損分析。
四、貴金屬
X-MET8000 Smart是理想的珠寶及貴金屬分析儀。日立手持式X射線熒光分析儀可對大小形狀的貴金屬物品進行無損的“對準即測”多元素分析,被廣泛用于珠寶及貴金屬測試。
五、鍍層分析
對于鍍層厚度進行快速,無損和準確的分析已經(jīng)非常重要。X-MET8000 Smart手持式成分分析儀相比臺式分析儀器在金屬表面處理工藝中有著的優(yōu)勢,它無需切割樣品,無需花費較長的時間來等待檢測結(jié)果。
六、三元催化
X-MET8000 Smart是理想的三元催化分析儀。日立手持式X射線熒光分析儀可對粉末和塊狀物品進行無損的“對準即測”鉑、鈀、銠元素分析,被廣泛用于三元催化測試。
日立手持式 XRF合金分析儀X-MET8000系列儀器的高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器(SDD)耦合在一起,其速度和性能幾乎可滿足市場上所有的金屬分析應(yīng)用需求。
X-MET8000 日立手持式合金分析儀是檢驗及制造行業(yè)中,進行廢舊金屬回收、及珠寶分析、材料可靠性鑒定(PMI)的理想工具。
