當納米顆粒分析儀富里葉透鏡和準直鏡的表面沾上灰塵或其他臟物時,會造成背景光能上升,使測量結果的可靠性下降。用戶應定期檢查。一般情況下每半年檢查一次。如果環(huán)境比較臟,應檢查得更頻密一些。用戶如果發(fā)現背景光能比剛交貨時有明顯上升,那么除了樣品測量窗口臟這一原因之外,就是由上述鏡子變臟引起的。德國的新巴太庫納米顆粒分析儀，采用氦光源，利用Fraunhofer原理，量程0.1-3500μｍ。內置31個傳感器，干法測試是其擁有的技術，樣品用量少，重復性好。濕法測時，循環(huán)管及離心泵的密封圈可按所采用的溶劑要求加以更換。日青企業(yè)產納米顆粒分析儀采用半導體光源，光波波長為670ｎｍ，內置55個傳感器，半圓形設計。循環(huán)管部及離心泵抗有機溶劑腐蝕性能弱，經跟蹤觀察試驗，其離心泵的密封圈經受不住較長時間有機溶劑的浸潤，易損壞。
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