英國ABI-2400電路板故障檢測儀強大的測試功能特點：
1）適合各種類型的測試,模擬及數字集成電路及各種分立器件的測試
2）可進行在線或離線測試與分析
3）具有24路測試通道，也可使用探棒進行巡檢測試，針對各種類型的封裝元件進行測試。
4）安全性高的無電源測量方式，不用給電路板加電，系統自動施加各種類型的測試條件，可能地保證測試安全。
5）多種測試類型：1）簡單類型V-I曲線測試，針對固定某一管腳的不同管腳的測試，2）矩陣式V-I曲線測試模式, 可針對管腳間的阻抗曲線進行測試。提供了豐富的測試信息，保證的測試的可靠性。
6）在進行離線測試時, 可針對蕊片內部進行阻抗分析
7）自動對比及儲存V-I曲線,以備日后調取，方便了元件庫的建立
8）可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件
9）可設定同步脈沖信號的寬度, 進行可控規元器件或FET的功能測試
10）可進行光耦合及繼電器元器件的速度功能測試
11）具有二組信號源, 可輸出直流信號, 針對光耦合器及繼電器進行穩態測試.
12）顯示相似度百分比，具有業界中最多的信號頻率調整檔位, 對于故障的查找有相當的幫助.
13）測試頻率高達到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件
14）系統具備自動信號補償功能, 可針對測試環境及夾具進行自校測試, 以防止量測信號失真.
15）可進行維修日志的編寫，將維修記錄長期保存，以備日后查看。
16）可由軟件加入圖片, 用來清楚的表示被測元件的位置及電路板樣式.
17）可選擇利用USB或PCI通訊接口來進行儀器的操作, 也可安裝在PC內來節省所占的空間.
英國ABI-2400電路板故障檢測儀測試參數：
| V-I 測試參數 | |
| 量測通道: | 24 多任務信道+ 2 實時對比通道 + 2 同步脈沖信號信道 |
| 信號電壓范圍: | 2 V to 50 V peak to peak |
| 電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
| 信號頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz |
| 信號電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
| 信號阻抗范圍: | 100 Ohm to 1 M |
| 測試信號波形: | 正弦波,方波,三角波,斜波,脈沖波 |
| 顯示圖形模式: | V-I, V-T, I-T |
| 量測波形自動對比功能: | 可利用實時量測雙通道來自動實時對比好壞組件的波形, 或是將波形進行存儲之后, 再進行比對工作. |
| 同步脈沖輸出模式: | 正向(Positive), 負向(negative)或雙向(bipolar)波形 |
| 同步信號振幅: | 可調式由 +10 V ~ - 10V |
2400電路板故障檢測儀全功能V-I測試模塊2400
全功能V-I測試儀
是一個經由計算機控制來針對各類元器件進行V-I測試的模塊.
其大小與一個CD-ROM的大小相同, 所以它可以被安裝在個人計算機之中或是另外選配的外接盒之中.
而這是一個包含好壞電路板實時對比的全面性電路板故障檢測功能.
SYSTEM 8的全功能V-I測試模塊可的由客戶來設定其測試的各種參數.
用戶可依照不同的組件性來設定信號波形參數.即便是波形的顏色或是背景的顏色,也可以依照用戶的需求來進行來自行設定.
這是一個良好電容器的基本V-I圖形,可以利用實時對比通道來進行波形比對,可依比對的相似度來判定是否為故障組件的圖形.
可利用實時雙信道對比模式來實時比對二點不同通道的波形差異度.可利用此方式來分辯好板壞板上各點量測波形的相似度,進而找到故障的組件.而此方式適合剛入門的檢修工程人員來使用.
此模塊還提供了二個同步脈波輸出信號,可提供MOSFET或門流體的觸發信號.而其脈沖寬度, 信號極性及觸發角度皆可設置.
功能強大的矩陣掃描式VI曲線量測方式.它可分別依序將各管腳作為一信號的基準點,再對其它的管腳作VI曲線量測.此功能會比一般的VI曲線量測更精準,更快速.
可同時顯示多組波形在同一個顯示窗內.此方式可同時檢視多個通道的比對結果.或是點選放大其中一個波形來進行故障波形分析.
2400電路板故障檢測儀V-I 測試能力
量測通道:24 多任務信道+2實時對比通道+2同步脈沖信號信道
信號電壓范圍:2 V to 50 V peak to peak
電壓分辨率:8 to 12 bits
信號頻率范圍:37.5 Hz to 12 kHz
信號電流范圍:1 µA to 150 mA
信號阻抗范圍:100 Ohm to 1 M
測試信號波形:Sine, square, triangle, ramp, pulse
顯示圖形模式:V-I, V-T, I-T
量測波形自動對比功能:可利用實時量測雙通道來自動實時對比好壞組件的波形,或是將波形進行存儲之后,再進行比對工作.
同步脈沖輸出模式:正向(Positive), 負向(negative)或雙向(bipolar)波形
同步信號振幅:可調式由+10 V~-10V
信號校正:自動
附件(Accessories)
標準附件
1x24通道DIL測試夾
1x24通道測試線
2x接地線
2x同步脈沖測試線
1x藍色V-I測試探棒
1x黃色V-I測試探棒
1x雙信道貼片組件測試夾具
選購附件(Options)
適配卡:PCI interface
獨立的外接盒:可選配使用USB接口的獨立式外接盒.
VI曲線的定義
V-I曲線測試是一種針對模擬及數字電路且可靠度高的測試方法.其測試方式是透過輸出電壓信號通過被測組件上所形成的電流信號,而定義出該被測節點的阻抗.
而經由連續的電壓-電流信號的變化所產生的阻抗測試數據,將此一連續的測試數據繪制成一曲線,此為被測組件的V-I曲線. 通常可利用已知好的電路板上的V-I曲線,來比對待測的電路板或組件,可達到快速故障診斷的目的.而這項測試技術最主要的優勢是在于不需為電路板或組件加電,即可直接進行比對測試.所以,即使是無法動作的電路板也可以進行故障檢測工作.
