【產品應用】
掃描電鏡廣泛用于材料科學（金屬材料、非金屬材料、納米材料）、冶金、生物學、醫學、半導體材料與器件、地質勘探、病蟲害的防治、災害（火災、失效分析）鑒定、刑事偵察、寶石鑒定、工業生產中的產品質量鑒定及生產工藝控制等。在材料科學、金屬材料、陶瓷材料半導體材料、化學材料等領域，進行材料的微觀形貌、組織、成分分析。各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體/晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。
【技術參數】
分辨率：0.8nm@30kV STEM 、0.8nm @15 kV 、1.4 nm @1kV
放大倍數：10-1,000,000×
加速電壓：調整范圍：0.02-30 kV（無需減速模式實現）
探針電流： 3pA～20nA（100nA選配） 穩定性優于 0.2%/h
低真空范圍：2-133Pa（Sigma 500VP可用）
樣品室： 358 mm（φ），270.5 mm（h）
樣品臺：5軸優中心全自動 X＝130mm Y＝130mm Z＝50mm T＝-4°－70° R＝360°
系統控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統，可選鼠標、鍵盤、控制面板控制
存儲分辨率：32k x 24k pixels
