3321 型空氣動力學粒徑譜儀

產品描述
3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS™)提供0.5至20微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些粒徑分析儀還檢測0.37 至20微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數據向有興趣研究氣溶膠組成的人士提供了途徑。
APS粒徑譜儀使用雙峰光學系統,具有的粒徑檢測精度。它還包括新設計的噴嘴結構和改進的信號處理。因此,它具有更大的小粒徑檢測效率、提高的質量分布精確度并有效消除錯誤背景計數。
空氣動力學粒徑:APS 3321通過精密的飛行時間(TOF)技術可以實時測量粒子的空氣動力學粒徑,其粒徑測量范圍達到0.5-20μm。由于基于飛行時間的空氣動力學粒徑計數僅僅與粒形狀相關,從而避免了折射系數和米散射的干擾,因此儀器對粒徑的測量性能優于同類的光學散射儀器。此外,飛行時間測量粒徑所具有的單調對應曲線確保了在整個粒徑測量范圍內的高分辨率。
光學散射強度:通過光學散射測量技術,APS 3321的測量粒徑可以達到0.37-20μm。雖然光學散射強度并不總是顆粒物粒徑的可靠表征參數,但它仍然是人們感興趣的一項參數。APS 3321可以分別提供同一粒徑的空氣動力學粒徑和光學散射強度這兩項參數的數據,并單獨存儲。
主要特性
- 雙峰光學系統產生高精度檢測
- 測量0.37至20 µm粒子的光散射強度
- 測量0.5至20 µm粒子的空氣動力學粒徑
技術指標
粒徑范圍 | 05-20µm(空氣動力直徑);0.37-20µm(光散射直徑) |
氣動力學直徑解析率 | 0.02µm(1µm),0.03µm(10µm) |
分辨率 | 粒徑分辨率:32通道/10倍粒徑,總共52通道,非相關模式下1024位原始飛行時間數據(4ns/位); |