HLP-01,試驗探棒
TFP-01,Test Finger Probe (IEC試驗指),符合: IEC, EN,CSA,UL標準.(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(關節試驗指),符合UL標準.(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(UL關節試驗指)
TFP-01,Test Finger Probe (IEC試驗指),符合: IEC, EN,CSA,UL標準.(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(關節試驗指),符合UL標準.(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(UL關節試驗指)
Model HLP-01: 4.0mm Hazardous Live Parts Probe(試驗探棒)
美國.ED&D產品服務于:IBM ,美國航空暨太空總署,英代爾,蘋果, NCR ,索尼公司,太陽,飛利浦公司,思科, AT&T , Compaq , JVC , Hewlett-Packard ,摩托羅拉, Mattel ,戴爾,3 Com 等公司;專為UL , CSA , ETL , TUV,Demko等試驗室提供檢測產品. |
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