半導(dǎo)體技術(shù),自60年代起步,1965年集成回路(1C)誕生后一路飛躍,閃存、表面實裝封裝等技術(shù)頻現(xiàn),高密度LSI蓬勃發(fā)展。半導(dǎo)體技術(shù)至關(guān)重要,也迎來新需求,新的生產(chǎn)測試挑戰(zhàn);導(dǎo)通電阻評價系統(tǒng)助力半導(dǎo)體試驗設(shè)備研發(fā)芯片,為監(jiān)控老化系統(tǒng)精準(zhǔn)監(jiān)測,讓計測系統(tǒng)實現(xiàn)高精度測量。家電、手機到電動汽車,再到通信、醫(yī)療等領(lǐng)域。
AMR測試方法是聯(lián)動冷熱沖擊或者快溫變試驗箱進行評價,在冷熱沖擊的高應(yīng)力環(huán)境下,對基板接合部分或者材料的導(dǎo)通性能評價。
變化率(%)判定
此判定針對BGA以及CSP等封裝元器件的微小阻值變化的判定方法。以指定的測試數(shù)據(jù)為基準(zhǔn),比較高溫側(cè)/低溫側(cè)的數(shù)據(jù)變化百分比進行判定失效與否。
勤達(深圳)數(shù)碼科技有限公司簡稱(勤達科技)是一家積極推動技術(shù)應(yīng)用的科技公司,自2004年成立以來,致力于引進國外科技軟件、設(shè)備和技術(shù)。
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