BUCHI 近紅外光譜 NIRMaster™ Essential
FT-NIR 性能
快速、精確且可再現地控制飼料和食品樣品的質量和營養成份。近紅外NIRMaster™ 提供 FT-NIR 性能，是世界上的獨立光譜儀，可提供食品級 PMMA 或不銹鋼版本。
預期使用壽命:雙燈模塊 2 x 6000 h
光譜儀類型:極化 FT-NIR
工作環境:連線
可靠
利用防振 FT 極化干涉儀，獲取具有可靠性的讀數。頻繁的內部標準檢查持續驗證近紅外 NIRMaster™ 的性能，確保數據始終可靠。使用內嵌的工業標準 PC 安全地操作 FT-NIR 光譜儀。在雙燈防護的保護下連續操作設備，以優化流程效率。
結果
憑借極化 FT-NIR 技術提高數據再現性，以及內部激光系統的波長性能提高結果的精度。通過同時精確測量多個參數，利用近紅外 NIRMaster™ 節省時間。
簡單易用
通過高效的快速啟動校準節省時間，實現 FT-NIR 性能。近紅外 NIRMaster™ 與標準工業顯示器和鍵盤兼容，可簡化數據輸入和管理。憑借易于清潔的衛生設計和經過認證的防塵和防濺水保護 (IP54)，您可以放心地在惡劣的食品生產環境中使用 FT-NIR 光譜儀。
特性
易于清潔的設計在日常使用中可提高食品安全等級
易于清潔的衛生設計和高保護 (IP) 等級可在嚴酷粗糙環境中支持您的日常工作。近紅外 NIRMaster™ Essential 采用食品級別的 PMMA 外殼或不銹鋼外殼，其防護等級為 IP54 或 IP65。
BUCHI 偏振干涉儀
BUCHI 通過使用折光率的晶體已經成功改造了石英偏振干涉儀。這樣可以提供分辨率和緊湊設計，同時又保持了對機械擾動不敏感的優點。近紅外 NIRMaster 在惡劣環境中能夠保持 FT-NIR 性能的原因在于：在厚度可變的雙折射晶體中，利用兩個光束的空間運動偏差和光路偏移。在 Michelson 型干涉儀中，機械形變會直接影響干涉效果，但在晶體干涉儀中，這種影響會被降低 10 至 20 倍。
雙燈模式
在 NIR 光譜儀的連續可用性方面，BUCHI 已經樹立了新的標準。我們的近紅外 NIRMaster™ Essential 配備有雙燈模式，在這種模式下，如果主光源發生故障，會自動切換到第二個集成式燈。備用燈可降低儀器故障的風險，并預留充足的時間來定購置換燈。同時，您可繼續測量工作，不會受到更多干擾，實現的工作流程。
| 近紅外 NIRMaster Essential | |
| Characteristics | |
| System protection | :否 |
| Housing material | :否 |
| Embedded PC | :- |
