一、產品介紹
Thermo Scientific™Verios™ XHR SEM掃描電子顯微鏡（SEM）旨在提高您實驗室的可發布結果。Verios SEM通過將整個1 keV至30 keV能量范圍內的亞納米分辨率擴展到新型材料，例如催化劑顆粒，納米管，孔隙，界面，生物物體和其他納米級結構，從而提供了新的見解。無需過渡到TEM或其他成像技術即可獲得高分辨率，高對比度的圖像。Verios SEM提供了研究應用所需的靈活性，可容納大型樣品，例如整片晶圓或冶金樣品。Verios SEM可在1至30 kV能量范圍內以亞納米級分辨率提供精確的成像。它提供了在各種應用中對材料進行精確測量所需的出色對比度，而又不影響傳統SEM的高通量，分析能力，樣品靈活性和易用性。Verios SEM具有的技術，例如用于提高熱穩定性的定焦鏡和用于更高偏轉線性的靜電掃描。在選擇參數，處理大型樣品或支持其他應用程序（例如分析或光刻）時，它非常靈活。利用Verios XHR SEM，偶爾的用戶和專家都可以在最短的時間內訪問準確而完整的納米級數據。
二、應用領域
廣泛的應用在生物學、醫學、冶金學等學科領域。
三、產品特點
1. 使用Elstar™單色儀以及優化的光學器件和檢測功能，可以在您的樣品要求的操作條件下獲得準確，真實的納米級信息：對于非導電樣品，其值為500 eV及以下；對于光束敏感樣品，則為低劑量操作。
2. 收集完整的納米級信息：得益于Elstar的四重SE / BSE檢測和過濾功能，地形和材料形成了對比，得益于我們的多段STEM技術，在結構上形成對比。
3. 使用Elstar的精確靜電束偏轉和*的校準方法，可以依靠遠遠超出普通SEM的精確計量。
4. 體驗快速，精確的樣品管理：容納大型樣品，可控地清潔樣品表面，以極低的放大倍數快速檢查并導航到感興趣的區域。
5. 使用電子束光刻技術，電子束誘導的材料直接沉積，執行創新且精確的納米加工，并在上下或傾斜位置檢查創建的3D結構。
6. 發現一個針對簡單用戶而優化的平臺，它具有簡單而強大的界面，以及可以依靠儀器的靈活性和擴展控件來針對特定實驗精確調整儀器的SEM專家。
