TH2839系列采用阻抗測量范圍*寬的自動平衡電橋技術，其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，是電子元器件設計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設計和開發(fā)以及材料(電子材 料和非電子材料)的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。。 常州同惠TH2839精密阻抗分析儀應用 ■ 無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。 ■ 半導體元件：LED驅動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析 ■ 其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估 ■ 介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估 ■ 磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估 ■ 半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性 ■ 液晶單元：介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性 常州同惠TH2839精密阻抗分析儀技術參數(shù) 產(chǎn)品型號 TH2839 TH2839A 測試信號源 信號源輸出阻抗 100Ω， ±1% @1kHz 測試頻率 范圍 20Hz-10MHz 20Hz-5MHz 分辨率 20.0000Hz - 99.9999Hz 1mHz 100.000Hz - 999.999Hz 10mHz 1.00000kHz - 9.99999kHz 100mHz 10.0000kHz - 99.9999kHz 1Hz 100.000kHz - 999.999kHz 10Hz 1.00000MHz - 10.00000MHz 100Hz AC測試信號模式 額定值(ALC OFF)：設定電壓為測試端開路時Hcur電壓，設定電流為測試端短路時從Hcur流出電流 恒定值(ALC ON)： 保持DUT上電壓與設定值相同，保持DUT上電流與設定值相同 AC信號 電壓范圍 F≤2MHz 5mVrms-- 2Vrms F >2MHz 5mVrms -- 1Vrms 分辨率 5mVrms -- 0.2Vrms 100µVrms 0.2Vrms -- 0.5Vrms 200µVrms 0.5Vrms -- 1Vrms 500µVrms 1Vrms -- 2Vrms 1mVrms 電流范圍 50µArms -- 20mArms 分辨率 50µArms -- 2mArms 1µArms 2mArms -- 5mArms 2µArms 5mArms -- 10mArms 5µArms 10mArms -- 20mArms 10µArms Rdc測試 電壓范圍 100mV — 2V 分辨率 100µV 電流范圍 0mA— 20mA 分辨率 1µA DC偏置 電壓范圍 0V — ± 40V 分辨率 0V -- 5V 100µV 5V -- 10V 1mV 10V -- 20V 2mV 20V -- 40V 5mV 電流范圍 0mA— ± 100mA 分辨率 0 A -- 50mA 1µA 50mA -- 100mA 10µA 電壓源 電壓范圍 -10V -- 10V 分辨率 1mV 電流范圍 -45mA -- +45mA 輸出阻抗 100Ω 顯示器 尺寸/類型 7英寸 (對角線)TFT LCD顯示器 比例 16：9 分辨率 800×RGB×480 測量功能 測試參數(shù) Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc R-X, Z-θd, Z-θr G-B, Y-θd, Y-θr Vdc-Idc 數(shù)學功能 A(X+B)+C， X為測試參數(shù)，A、B、C為輸入?yún)?shù) 等效電路 串聯(lián)、并聯(lián) 偏差測量 與標稱值的優(yōu)良偏差Δ，與標稱值的百分比偏差Δ% 校準功能 開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD 量程選擇 自動AUTO、手動HOLD 量程 LCR 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、 100kΩ，共15檔 Rdc 1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ，共15檔 觸發(fā)模式 INT、MAN、EXT、BUS 觸發(fā)延遲 0 s -- 999 s，分辨率100us 測試端配置 四端對 測試電纜長度 0m, 1m, 2m 測量平均 1-255次 測量時間 (ms) 速度模式 20Hz 100Hz 1kHz 10kHz 100kHz 1MHz 10MHz FAST 330 100 20 7.7 5.7 5.6 5.6 MED 380 180 110 92 89 88 88 LONG 480 300 240 230 220 220 220 測量顯示范圍 a 1×10-18； E 1×1018 Cs, Cp ±1.000000 aF -- 999.9999 EF Ls,Lp ±1.000000 aH -- 999.9999 EH D ±0.000001 -- 9.999999 Q ±0.01 -- 99999.99 R, Rs, Rp, X, Z, Rdc ±1.000000 aΩ -- 999.9999 EΩ G,B,Y ±1. 000000 aS -- 999.9999 ES Vdc ±1.000000 aV -- 999.9999 EV Idc ±1.000000 aA -- 999.9999 EA θ r ±1.000000 a rad -- 3.141593 rad θ d ±0.0001 deg -- 180.0000 deg Δ% ±0.0001% -- 999.9999% t -99.99℃ -- 1000.00℃ Turn Ratio (待擴展) ±0.000000 -- 1000.000 基本測量準確度 0.05%(詳見說明書) 列表掃描 掃描點數(shù) *多201點 掃描參數(shù) 測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流 **掃描參數(shù) 無、量程方式、測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流、直流源電壓。 注：已選擇的**掃描參數(shù)參數(shù)不能再選為**掃描參數(shù)。 觸發(fā)模式 順序SEQ 當一次觸發(fā)后，在所有掃描點測量。/EOM/INDEX只輸出一次。 步進STEP 每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點測量。每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結果只在*后的/EOM才輸出。 列表掃描比較器 可為每個掃描點設置一對下限和上限。 可選擇：通過**掃描參數(shù)判斷/通過**參數(shù)判斷/不用于每一極限。 列表掃描時間標記 在順序模式中，將觸發(fā)點設定為0時，通過定義時間就可在每個測量點記錄測量開始的時間。 圖形掃描分析 掃描點數(shù) 51、101、201、401、801點可選 掃描軌跡 主/副參數(shù)可選擇 顯示范圍 自動、鎖定 坐標標尺 對數(shù)、線性 掃描參數(shù) 頻率、ACV、ACI、DCV BIAS/DCI BIAS、直流電壓源 掃描結果顯示 主/副參數(shù)*大值/*小值、設定點主/副參數(shù)值 掃描圖形存儲 掃描圖形可存儲于儀器內(nèi)部FLASH、外部USB存儲器或上傳上位機。 比較器 Bin分檔 主參數(shù) 9 BIN、OUT_OF_BINS、AUX_BIN和LOW_C_REJECT 副參數(shù) HIGH、IN、LOW Bin極限設置 優(yōu)良值、偏差值、百分偏差值 Bin計數(shù) 0 -- 999999 PASS/FAIL指示 滿足主參數(shù)為9 BIN之一、副參數(shù)為IN，前面板PASS燈ON，否則FAIL ON 測量輔助功能 數(shù)據(jù)緩沖存儲功能 201個測量結果可分批讀取 保存/調(diào)用功能 40組儀器內(nèi)置非易失存儲器測試設定文件 500組儀器USB存儲器測試設定文件/截屏圖形/記錄文件 鍵盤鎖定功能 可鎖定前面板按鍵 接口 USB HOST端口 通用串行總線插座，A類；FAT16/FAT32格式。U盤存儲或條形碼掃描 USB DEVICE端口 通用串行總線插座，小型B類（4個接觸位置）；與USBTMC-USB488和USB 2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。 LAN 10/100BaseT以太網(wǎng)，8引腳，兩種速度選擇 HANDLER接口 用于Bin分檔信號輸出 外部DC BIAS控制 控制TH1778/TH1778S偏置電流源，*多一臺TH1778+5臺TH1778S (120A MAX) RS232C 標準9針，交叉 GPIB (選件) 24針D-Sub端口（D-24 類），陰接頭與IEEE488.1、2和SCPI兼容。 SCANNER(選件) 與TH2819X、TH2829X SCANNER接口兼容常州同惠TH2839精密阻抗分析儀
常州同惠TH2839精密阻抗分析儀 TH2839系列采用阻抗測量范圍*寬的自動平衡電橋技術，其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，是電子元器件設計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。
