系統(tǒng)簡介

材料的屏蔽效能SE是指空間某點未加屏蔽時的電場強(qiáng)度EO(或電場強(qiáng)度HO、能量場強(qiáng)度PO)與
加屏蔽該點的電場強(qiáng)度E1(或電場強(qiáng)度H1、能量
場強(qiáng)度置P1)的比值，對于實際屏蔽材料，屏蔽效
能SE可表示為:SE=A+R+B, A, R, B三項表達(dá)式
如下表所示:
R一表示電磁波通過屏蔽表面時，由阻抗突變引起的反射損耗;
A一表示電磁波在屏蔽體內(nèi)部傳播時，電磁能量波吸收的損耗:
B一表示電磁波在屏蔽體的兩個界面的多次反射損耗。

測試項目:
1.小同軸測量法測試試驗參照標(biāo)準(zhǔn):SJ20524-1995《材料屏蔽效能測量方法》
2.開窗法測試試驗參照標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-285: 1956《用于電子試驗的電磁屏蔽環(huán)境衰減方法沐
3.法蘭同軸傳輸線法測試試驗參照標(biāo)準(zhǔn):SJ20524-1995《材料屏蔽效能測量方法》
4.材料特性測試
*注:擴(kuò)展項目(拱形測量法測試試驗、防輻射屏蔽服屏蔽效能檢測試驗)

材料屏蔽性能測試系統(tǒng)

材料屏蔽性能測試系統(tǒng)

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