GDA 750 輝光放電光譜儀
德國SPECTRUMA公司成立于1980年，是一家專注于生產分析儀器的高技術公司。公司技術團隊在研發、生產制造和服務領域具有40年以上的豐富經驗，迄今為止，在他們的努下，已開發生產出第三代面向未來的輝光放電光譜儀。
輝光放電分析（GDA）于1968年出現，起初用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學分析。這種分析方法不斷地發展，尤其擅長于表面和涂層分析。與其他傳統的分析手段相比，輝光放電光譜技術令人滿意的是它的表面涂鍍層中化學元素含量分析的能力。
在金屬分析領域，GDA是一種深度-含量和表面分析手段，表面涂鍍層和表面處理樣品可以得到準確測試，涂鍍層的厚度、化學元素含量均可以準確檢測。
應用領域
- 汽車制造及零部件
- 金屬加工、制造
- 冶金
- 航空、航天
- 電子工業
- 玻璃、陶瓷
- 表面處理：化學氣相沉積、物理氣相沉積等
- 電鍍
- 光伏電池、鋰電
- 科學研究
應用范圍
- 適用于質量控制和材料研究
- 在金屬分析領域中，輝光放電分析是濃度分析和表面分析的手段。
- 熱處理工藝中，如表面滲碳硬化或滲碳熱處理等，都可以通過分析被處理材料的表面和近表層區域，準確測量所關心元素的含量-深度分布，定性、定量檢測表面污染物、夾雜物和物相比例。
- 采用濃度分布分析功能可以測量涂（鍍）層厚度及化學成分。
- 對于傳統的分析方法不能解決的材料分析問題，輝光放電光譜技術可以作為優先選用的方法。
- 采用可選的射頻光源（RF，GDA750輝光放電光譜儀）可以分析非導體材料和涂層，如玻璃，陶瓷，釉質和油漆涂層。
- 檢測太陽能光伏電池薄膜中化學元素含量分布，如：Cu (In,Ga) Se2
主要特點
- GDA750可以配備60個以上的分析通道，并且能充分地滿足分辨率和分析要求。
- 涂（鍍）層材料和均相材料化學成分、痕量和微量合金元素的檢測。
- 化學成分可以與其他特性，如被分析區域中的密度和質量分布同時測定。
- 濃度分布測定和表層測量數據的定性/定量評價
- 測定被分析表面層內部的相/相比
- 涂（鍍）層的深度可測量至200um。
- 表面分析和獲得的分辨率達1個原子層。
- 通過比較涂（鍍）層工藝過程（CVD，PVD）前后的表面特性，確保生產工藝過程避免廢品浪費。
- GDA750也可用于塊狀樣品的分析（如金屬合金的化學成分），為復雜基體材料的分析提供具有良好線性的工作曲線。
- 軟件基于Windows 2000環境，日常分析功能采用易用的軟件界面，使用戶能很快地熟悉儀器的使用。
- 具有許多適于用戶的軟件功能選項，如顯示輸出、數據傳輸和數據格式。
