變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CTV）

儀器概述

介損測量是絕緣試驗中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預防性試驗中都廣泛應用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測量是衡量其絕緣性能的zui基本方法。JS-9000F異頻介質(zhì)損耗測試儀突破了傳統(tǒng)的電橋測量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進行自動頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運算測試速度快、精度高、全自動數(shù)字化、操作簡便；電源采用大功率開關(guān)電源，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動加壓，可提供zui高10千伏的電壓；自動濾除50Hz干擾，適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場測試。廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測量。

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CTV）

工作原理：

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當電介質(zhì)上施加交流電壓時，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測量線路包括一標準回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖1所示。標準回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標準電容器與測量線路組成，被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號處理器運用數(shù)字化實時采集方法，通過矢量運算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。

技術(shù)指標

 1、試驗環(huán)境溫度：10℃～30℃（LCD液晶屏應避免長時間日照）

 2、相對濕度：20%～80%

 3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz

 4、外形尺寸：長*寬*高=470mm*320mm*360mm

 5、重量：18kg

 6、輸出功率：1.5KVA

 7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）

 8、測試方法：正接法、反接法、外接試驗電壓法

 9、測量范圍：內(nèi)接試驗電壓：

tgδ：99.9%

Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

10KV  Cx＜60000 pF

5KV   Cx＜80000 pF

2.5KV  Cx＜0.3uF

外接試驗電壓：

由外接試驗變壓器輸出功率而定

10、基本測量誤差：介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±0.09%  

電容容量（Cx）：1.5%±1pF

11、分辨率： tgδ：0.01%  

Cx ：0.1pF