無(wú)損測(cè)試儀器: X射線(xiàn)探傷儀:
探傷測(cè)試,無(wú)損測(cè)試設(shè)備:鑄件,壓模件,電熱絲、發(fā)熱盤(pán)、熱敏電阻、電容、集成電路、電路板、電子連接器等的脫焊、空焊、連錫、氣泡，工業(yè)鑄件,焊縫測(cè)試,產(chǎn)品內(nèi)部的圖形結(jié)構(gòu)和缺陷,等測(cè)試。產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否有損壞、是電子產(chǎn)品無(wú)損測(cè)試的專(zhuān)用設(shè)備。還可用于鑄件裂紋，裂縫、氣孔等無(wú)損測(cè)試。
技術(shù)參數(shù):
1、數(shù)字成像系統(tǒng):為工業(yè)非晶硅DR平板探測(cè)器，
2、像素間距:125微米，
3、AD轉(zhuǎn)換16比特。
4、 視場(chǎng)：350X430mm另有160X130mm250x300mm供用戶(hù)選擇
5、分辨率：125um；(數(shù)字化高清圖像)
6、間距：50-500mm；
7、管電壓：50-120kv；
8、管靶流：0.2-1.25mA；
9、電源：220VAC
10、主機(jī)重量：86kg；
11 、軟件功能，圖像軟件、正反選、縮放、旋轉(zhuǎn)等多功能調(diào)節(jié).
射線(xiàn)照相、超聲、渦流、磁粉、滲透、目視、泄漏、聲發(fā)射、塑膠氣孔氣泡焊接裂紋雜質(zhì)X射線(xiàn)透視測(cè)試等
