NSG3040A是Teseq公司新推出的一臺用于在抗擾度測試中模擬電磁干擾影響的發(fā) 生器，它操作簡便、具有多種功能，滿足企業(yè)、國內(nèi)和國際標準的要求（包括的 EC/EN標準）。NSG3040A采用了新的Teseq設計理念，使得特測的多功能發(fā)生器產(chǎn)品系 列更加完整。這種創(chuàng)新的設計基于模塊化結構，因而提供了一個多功能測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以按照基 本測試要求配置，也可擴展功能以滿足需求多樣的測試實驗室的要求。

      NSG3040A系統(tǒng)設計于滿足用于CE標志測試的傳導EMC測試需要，它一般包括組合 波、EFT脈沖和PQT。強大的擴展能力使得該系統(tǒng)具有更廣泛的應用范圍。成熟、*的“主—從”概念技術使得單個脈沖模塊能夠獨立校準，并將校準資料和修 正系數(shù)存儲于從控制器上。新模塊安裝簡便，無需返回整個系統(tǒng)進行校準。

      由于采用技術*的組件，NSG 3040A在開關切換技術和相位精度方面建立了新的標準， 并且超越了現(xiàn)行標準的要求。因為采用了具有高質(zhì)、對比度的大型7”彩色觸摸板顯示，NSG3040A的操作非常簡 便。既可以通過一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調(diào)整鍵的滾輪來進行輸入。此外，在開 發(fā)環(huán)境下，通過內(nèi)置的DTA功能（直接測試程序調(diào)用），幾個“點擊”就能激活標準測 試，并能迅速、準確地得到結論性結果。各參數(shù)值均為高度可視的，通過大的觸摸輸入鍵可以迅速選擇并修改這些參數(shù)值。該操 作不需要觸控筆，測試參數(shù)可以迅速、簡便地編輯出來。可以簡便地進行多步驟測試程 序的增加、程序次序及參數(shù)值的修改。

      選擇“高級模式”后，用戶可以在測試中使用滾輪進行手動參數(shù)修改—有效、迅速地簡 化激活關鍵閾值的方法。

通過易操作的SD讀卡器可進行固件快速下載。可以完整的保存由用戶的測試。在 存儲空間不夠的特殊情況下，可用市場購買的SD記憶卡更換該記憶卡，而存放其中的 測試文件可被輕松復制進更大內(nèi)存的SD卡中。

      NSG3040A具有以太網(wǎng)端口，可接受來自個人電腦的外部控制。Windows軟件簡化了測試 程序并允許為各種類型的測試編寫復雜的測試序列。在測試進程中，操作人員可以進行 觀察并在測試操作中生成測試報告，以此增加長期測試的效率。

 模塊化、可擴展系統(tǒng)