主要特性與技術指標
- 波長范圍 1505 至 1630 nm
- 掃描波長精度 ±10 pm
- 掃描速度 200 nm/s
- 在進行雙向掃描時，重復率超過 2 次/秒
- 內置相關控制、受激布里淵散射（SBS）抑制
描述
Agilent 81960A 具有更快的掃描速度和重復率，以及可滿足 DWDM 元器件測量需求的動態精度技術指標，為緊湊型可調諧激光器創造了新的性能標準。 在兩個方向上動態的掃描可進一步提高重復率，適合在調整和校準過程中實時使用。 Agilent 81960A 的動態波長精度將以的性價比滿足許多 DWDM 元器件的測試需求。 出色的信號源與自發噪聲比使其足以對許多濾波器件的隔離度進行測試。
81960A 極快的測量速度和出色的測量精度可幫助您實現研發和生產目標。
特性：
- 創新、*、*的雙向掃描測量
- 在 80 nm 掃描范圍內實現高達 200 nm/s 的掃描速度
- 在進行雙向掃描時，重復率超過 2 次/秒
- 1505 至 1630 nm 波長范圍，適用于對 DWDM 器件進行 C+L 頻段測量
- 輸出功率高達 +14 dBm，可調低至 +6 dBm
- 由 N7700A 測量引擎支持的自動測量、更新的 816x 即插即用驅動器、N4150A 光基礎程序庫和直接的 SCPI 命令。
優勢：
- 借助 81960A 在激光器、主機和功率計之間進行更快雙向開關轉換和更出色數據處理的能力，可在相同時間內測試更多的器件。
- 使用全新 N7700A-102 快速頻譜損耗引擎（為 81960A 的快速掃描新功能提供 GUI 界面，用于功率和 IL 測量）和 Agilent N7744A 或 N7745A 多端口功率計，可以立即開始測試。
- 借助超越 OSA 測量的波長分辨率和動態范圍，調整和校準濾波器元器件。2 nm 掃寬時重復率高達 3 次/秒；40 nm 掃寬時重復率高達 1 次/秒。
- 當使用 N7700A-101 IL/PDL 測量引擎進行單次掃描 PDL 和 IL 測量時，激光器在連續掃描方面的增強性能可以提供極大幫助。
- 通過結合使用 81960A 和用于測量 PMD、DGD、PDL 和 IL 的 N7788B 元器件分析儀，可采用 JME 法對隔離器、PMF 和其他寬帶元器件進行精確的 DGD 測量。
- 可使用現成的定制程序，這些程序兼容 816x 即插即用驅動程序、N4150A 光基礎程序庫，以及現有 8194xA 和 8198xA 可調諧激光器模塊的 SCPI 命令集。
