AV5264AB通信矢量信號分析儀
產(chǎn)品綜述
無線通信系統(tǒng)正在以更高的速度、更寬的帶寬和更多的調(diào)制方法變得日益復(fù)雜，頻帶也正在往高頻段發(fā)展變化，為了能在無瞬時變化沖擊的情況下進(jìn)行測試分析，測量儀器需要的測量精度和寬帶分析性能。
既要滿足通信測量需求，又要減少產(chǎn)品成本，得心應(yīng)手的AV5264系列通信矢量信號分析儀是您的選擇，它可以在提高作業(yè)效率及縮短產(chǎn)品上市時間方面助您一臂之力。
AV5264系列通信矢量信號分析儀采用寬頻帶矢量信號接收與下變頻設(shè)計制造技術(shù)，解決了寬帶通信矢量信號接收分析難題，實現(xiàn)了9kHz～6GHz通用矢量調(diào)制信號接收和解調(diào)分析、GSM/TD-SCDMA/WCDMA/TD-LTE/FDD-LTE等標(biāo)準(zhǔn)通信制式信號分析，具有射頻信號功率測試、頻譜發(fā)射模板測試、鄰道泄漏抑制比、信號質(zhì)量等多域測試功能。通信矢量信號發(fā)生是采用小數(shù)分頻合成方式和寬帶數(shù)字調(diào)制方式設(shè)計，是一款高性價比的通信測試儀表，可應(yīng)用于各類射頻電子設(shè)備或部件的科研、生產(chǎn)、計量、維修，也可應(yīng)用于教學(xué)。
主要特點
l 多功能一體化設(shè)計，便于用戶使用
l GSM/TD-SCDMA/WCDMA/TD-LTE/FDD-LTE多種標(biāo)準(zhǔn)制式通信信號分析功能，滿足各種制式終端測試
l 大帶寬測試，具有40MHz信號分析能力
l 大動態(tài)范圍和高靈敏度的信號接收能力
l 多參數(shù)、多域同步關(guān)聯(lián)分析：射頻信號功率測試、頻譜發(fā)射模板測試、鄰道泄漏抑制比、信號質(zhì)量等多域測試功能
l 多種數(shù)字調(diào)制格式多種制式的矢量信號分析
l 高精度的射頻信號測量能力
l 大動態(tài)、高精度的射頻信號測量能力
l 快速自動化測試，實現(xiàn)低成本制造
l 中/英文操作界面，TFT真彩液晶顯示
l 豐富的程控接口，任您自由選擇，以便方便地實現(xiàn)遠(yuǎn)程控制及網(wǎng)絡(luò)升級功能
高質(zhì)量的測量特性
典型情況下顯示平均噪聲電平為-120dBm(分辨率帶寬為10Hz)，滿足微弱信號的可靠檢測，具有大動態(tài)范圍，可順利的完成大功率信號的測量任務(wù)。
內(nèi)置BPSK、QPSK、OQPSK、8PSK、16QAM、32QAM、64QAM、MSK、2FSK數(shù)字調(diào)制格式分析模塊，碼元速率1kHz~40MHz，可滿足用戶移動通信終端或設(shè)備高質(zhì)量測試，提供全面的解決手段。
內(nèi)置多種標(biāo)準(zhǔn)制式信號分析
內(nèi)置GSM/TD-SCDMA/WCDMA/TD-LTE/FDD-LTE等標(biāo)準(zhǔn)制式信號分析模塊，具有射頻信號功率測試、頻譜發(fā)射模板測試、鄰道泄漏抑制比、信號質(zhì)量等多域測試功能，可滿足用戶移動通信終端或設(shè)備高質(zhì)量測試，提供全面的解決手段。
掃描精度高，幅度測量精度高
儀器在整個掃描范圍內(nèi)采用連續(xù)鎖相合成技術(shù)，達(dá)到1Hz的高掃描精度。250kHz~6GHz射頻信號的幅度精度達(dá)到±2dB，提高生產(chǎn)效率并減小測試容限。幅度修正系數(shù)由儀器自動校準(zhǔn)功能完成，能維持高的測量精確度。
多重數(shù)字化掃描處理，測量速度快
儀器采用全數(shù)字中頻技術(shù)實現(xiàn)10Hz到3MHz的分辨帶寬，能夠更好適應(yīng)不同的測量任務(wù)，并可在快速的同時保證很高的頻率分辨率，捕捉瞬態(tài)干擾信號。
符合人類工程學(xué)的用戶接口
具有友好的操作界面，*可以由菜單指導(dǎo)您的操作。即使沒有經(jīng)過培訓(xùn)用戶也會迅速地獲得正確的結(jié)果。清晰的結(jié)構(gòu)可以使菜單內(nèi)的導(dǎo)向得到簡化。高對比度的彩色顯示屏，即使在臨時場地或光線入射不佳時都可以進(jìn)行軌跡判讀。
整機(jī)小巧輕便，性能價格比高
本儀器重量僅為16Kg，是一款高精度的矢量信號分析儀。該設(shè)備能夠以低廉的價格提供高質(zhì)量的測量，與市場上任意一款同水平的矢量信號分析儀相比，具有更高的性能價格比。
典型應(yīng)用
芯片研發(fā)和終端生產(chǎn)非信令測試
可廣泛應(yīng)用于GSM/TD-SCDMA/WCDMA/TD-LTE/FDD-LTE等標(biāo)準(zhǔn)芯片研發(fā)和終端的設(shè)計、研發(fā)、生產(chǎn)、認(rèn)證及維修等領(lǐng)域的非信令測試。下圖是應(yīng)用情況介紹。
支持終端輸出功率測量，當(dāng)測試次數(shù)不少于2次的條件下，、最小、平均功率的統(tǒng)計值將會顯示；支持終端調(diào)制域分析測量，可同時測試和顯示調(diào)制頻率、頻率誤差、相位誤差及峰值誤差；支持占用頻帶帶寬測量和鄰道功率測量；支持頻譜波形顯示，監(jiān)視頻譜是否超過規(guī)定的限值等。
