產品參數
產品編號: 日本電子掃描電鏡JCM-6000Plus所屬品牌: JEOL產品型號: JCM-6000Plus 額定功率：按實際方案提供所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 金相組織觀察應用領域:產品特性: 臺式掃描電子顯微鏡日本電子JCM-6000Plus。除了電子槍合軸,聚焦,消象散,襯度/亮度調節這些分別獨 立的自動功能外,還具有全自動功能,只需輕觸按鈕就能開始成像過程,顯示當前的圖像.下載相關資料-
日本電子掃描電鏡JCM-6000Plus
操作簡單
自動功能
除了電子槍合軸、聚焦、消象散、襯度/亮度調節這些分別獨 立的自動功能外，還具有全
自動功能，只需輕觸按鈕就能開始成像過程，顯示當前的圖像。
手動操作
觸摸想操作的項目后，會亮起綠燈，用力長按按鈕可進行粗調，輕點按鈕可進行微調，
既有觸控的簡便性也有使用旋鈕的熟悉感。
圖像搜索 / 顯示
顯示保存的圖像。選擇感興趣的的圖像，勾選 Display image 按鈕，能放大該圖像進行
仔細觀測。
顯示倍率圖像
勾選Low Mag Imgae，能觀察剛抽完真空后的倍率的圖像，很適合確認樣品的位置。
預設倍率
最多能預設 6 種倍率，預先設置好常用的放大倍數還可提高作業效率 ! 只需按下其中的
instant set 按鈕就可即時設定當前的倍率。
觸摸屏＆鼠標操作
JEOL 的品牌──觸摸屏系統，不僅用戶界面簡明易懂，操作也非常直觀，調節倍率等
就像使用智能手機一樣簡單方便，還可利用鼠標操作，就像使用以前的操作面板。
觀察
只需輕觸一下就可以切換高真空 / 低真空模式能觀察多種樣品。
高真空模式 二次電子像
高真空模式下能通過二次電子像和背散射電子像進行觀察。能觀察二次電子像中精細的表面結構，在高倍率下觀察也比較容易。
高真空模式 背散射電子像
由于采用了半導體背散射電子檢測 器，因而能檢測出成份像、形貌像和陰影像這三種信息，結合二次電子還可獲得多種信息。
低真空模式
利用 JCM-6000Plus 標配的低真空模式，可提高樣品室內的壓力，中和樣品表面的電荷，能直接觀察不導電樣品。
觀察含有少量油分或水分的樣品以及釋放氣體、不易鍍膜的樣品也非常方便。
圖像的搜索與打印
搜索圖像窗口
在 Search image window 中能選擇數據并方便地打印出來，還能調出保存好的圖像的成像
條件（加速電壓、燈絲電流、探針電流等）。
打印數據
在 Search image window 中選擇感興趣的圖像，只需按下 Output images 按鈕就可以方
便地打印出來。如果選擇了多幅圖像，系統會自動分配在每個頁面上。
調出成像條件
JCM-6000Plus 能調出保存的圖像的成像條件，只需選擇感興趣的圖像，押下
Load observation conditions 按鈕，系統就會再現成像條件，進行日常操作非常方便。
圖像觀察與測量
雙幀顯示
能并列顯示實時圖像和保存的圖像，在下面的實例中，右側顯示低倍率圖像及光學顯微鏡圖像，在左側利用實時圖像對放大的圖像進行確認，這樣就能對當前的圖像和保存的圖像一邊比較一邊觀察。
動態觀察
JCM-6000Plus 能拍攝視 頻，因而可以進行動態觀察。很適合觀察樣品隨時間的推移而發生的變化。
測長
JCM-6000Plus 具有測量兩點間距離的功能，選擇 Scaler 按鈕后，自動按鈕會切換到測長按鈕，測量結果能保存在圖像和csv 數據文件中。
元素分析
EDS 按下裝置的分析按鈕，就能開啟 EDS 視窗。EDS 能支持定性/定量分析、點分析和元素面分析（確認元素分布）。
定性 / 定量分析
用 Image（圖像）+ SPC（采集）兩個按鈕開始分析。數據采集結束后按下定量按鈕，就會顯示定量結果。
元素面分析（元素分布）
按下 Map 按鈕后，圖像的元素面分析開始。元素面分布結果會顯示組成元素的二維分布。
援助復雜分析
Analytical Assistance（分析援助）功能可使元素面分布和線分析更加容易。
在 Analytical Assistance 視窗中選擇感興趣的分析后，所需作業步驟會按順序顯示出來。只需按照視窗中指示按鈕的引
導，任何復雜的分析都能夠順利地完成。
點分析
在圖像上設定多個分析點后，系統會按順序自動分析各點上的元素并顯示譜圖。
分析結束后還能比較這些譜圖數據。
線分析
在圖像上測試的線上的元素含量的變化。
測試結束后還能改變元素。
探針追蹤
進行長時間分析時，能保持分析位置的穩定。
