R&S®DST200射頻診斷暗室 － 開(kāi)發(fā)過(guò)程中射頻分析的理想環(huán)境 － 支持各種無(wú)線設(shè)備的輻射測(cè)試應(yīng)用。它適合放置在所有研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的工作臺(tái)上使用，因而可始終在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和優(yōu)化階段使用。R&S®DST200能夠有效地幫助在最終型式檢驗(yàn)中獲得非常高的通過(guò)率，節(jié)省了時(shí)間和金錢。 為了確保高質(zhì)量的無(wú)線設(shè)備運(yùn)行時(shí)不會(huì)發(fā)生自我干擾，需要對(duì)其進(jìn)行專門的輻射測(cè)試，例如密度和共存性測(cè)試。另外，還必須進(jìn)行空口（OTA）性能驗(yàn)證和輻射雜散（RSE）測(cè)量。R&S®DST200支持研發(fā)、質(zhì)檢、生產(chǎn)和服務(wù)級(jí)的輻射測(cè)試要求，與采用大型EMC吸波室的應(yīng)用相比，包含R&S®DST200的測(cè)試裝置更加緊湊，操作更方便。可生成一致的、可對(duì)比的結(jié)果數(shù)據(jù)。 特性 縮短產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)流程，確保快速投放市場(chǎng) • 擁有成本更低 • 外形尺寸緊湊 － 適合各種研發(fā)實(shí)驗(yàn)室使用 為將來(lái)測(cè)量做好準(zhǔn)備 • 多個(gè)貫通式面板 － 功能性測(cè)試接口 • 便于集成射頻前置放大器和轉(zhuǎn)換器 • 測(cè)試天線可以互換 出色的測(cè)試結(jié)果和可重復(fù)性 • 出色的射頻特性 • 被測(cè)件在不同位置都可獲得高度均勻的場(chǎng)強(qiáng) • 手動(dòng)三維定位裝置 • 簡(jiǎn)單有效的前門機(jī)構(gòu) OTA和RSE測(cè)試自動(dòng)3D定位器 在大的OTA和EMC測(cè)試暗室中擁有出色的結(jié)果可重復(fù)性和互相關(guān)性 利用現(xiàn)成的測(cè)試模板可進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量 • 點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可進(jìn)行輻射測(cè)量 • 可輕松生成結(jié)果文檔 |
