朗鐸科技（北京）有限公司主營：手持光譜儀,激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）,直讀光譜儀
X射線衍射儀的應用
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成分的存在與否無關，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎。X 射線衍射是晶體的'指紋'，不同的物質具有不同的X 射線衍射特征峰值(點陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數目、位置等)，結構參數不同則X 射線衍射線位置與強度也就各不相同，所以通過比較X 射線衍射線位置與強度可區分出不同的礦物成分。X 射線衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對含量，并系統采集各種礦物的標準圖譜，包括石英、鉀長石、斜長石、方解石、白云石、黃鐵礦等近30 種礦物成分，通過礦物成分的相對含量就可以確定巖石巖性，為現場巖性定名提供定量化的參考依據，提高特殊鉆井條件下巖性識別準確度。
X射線衍射儀基本信息
X射線衍射儀技術(X-ray diffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。
X射線衍射分析儀的優勢如下
1; 少量樣本：僅需15毫克的材料。
2; 簡便的樣本準備工作：不需要技能熟練的技術人員。
3; 快速完成采集操作：在幾分鐘之內可獲得分析結果。
4; 便于攜帶：電池供電，堅固耐用的機身設計，沒有移動部件。
5; 獨立操作的儀器：無需水冷裝置，也無需大型的外置電源。
6; 無需持續的維護服務：X射線衍射分析儀可以持續正常地工作，很少出現停運現象。
