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X射線衍射儀在物相鑒定的應用
物相鑒定是指確定材料由哪些相組成和確定各組成相的含量,主要包括定性相分析和定量相分析。每種晶體由于其*的結構都具有與之相對應的X射線衍射特征譜,這是X射線衍射物相分析的依據。將待測樣品的衍射圖譜和各種已知單相標準物質的衍射圖譜對比,從而確定物質的相組成。確定相組成后,根據各相衍射峰的強度正比于該組分含量(需要做吸收校正者除外),就可對各種組分進行定量分析。
X射線衍射儀在微觀應力的測定中的應用
微觀應力是指由于形變、相變、多相物質的膨脹等因素引起的存在于材料內各晶粒之間或晶粒之中的微區應力。當一束X射線入射到具有微觀應力的樣品上時,由于微觀區域應力取向不同,各晶粒的晶面間距產生了不同的應變,即在某些晶粒中晶面間距擴張,而在另一些晶粒中晶面間距壓縮,結果使其衍射線并不像宏觀內應力所影響的那樣單一地向某一方向位移,而是在各方向上都平均地作了一些位移,總的效應是導致衍射線漫散寬化。材料的微觀殘余應力是引起衍射線線形寬化的主要原因,因此衍射線的半高寬即衍射線強度一半處的寬度是描述微觀殘余應力的基本參數。
X射線衍射儀
特征X射線及其衍射X射線是一種波長(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質,并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光和氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線,它具有靶中元素相對應的特定波長,稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀,英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。