半導體冷熱沖擊試驗箱還可以用于高、低溫的可靠性環境模擬試驗。對電子電工、航空航天、汽車摩托、光電、LED、橡膠、照明、塑膠、金屬、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關產品的零部件及材料在高、低溫及冷熱循環變化的情況下,檢驗其各項性能指標。
半導體冷熱沖擊試驗箱技術參數：
規格型號：AP-TS-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
內箱尺寸（寬*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外形尺寸（寬*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
試驗溫度范圍：A表示：-40℃～+150℃
B表示：-55℃～+150℃
C表示：-65℃～+150℃
低溫槽溫度范圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃，升溫速率平均5℃/MIN
溫度波動度：±2.0℃
溫度轉換時間：10S
溫度穩定時間：5MIN，常溫～*低溫度5MIN，常溫～*高溫度5MIN
備注：以上參數如均不符合自家的產品測試條件，可以致電業務員或者聯系在線客服下單非標定制，或者上門定制，不收額外費用與成本。與河南高低溫沖擊測試箱相關的設備還有高低溫沖擊試驗機、冷熱沖擊試驗機、高低溫檢測沖擊試驗機、冷熱沖擊檢測機、兩箱式低溫沖擊試驗機、三箱式低溫沖擊試驗機、等沖擊試驗機。
