朗鐸科技（北京）有限公司主營：手持光譜儀,激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）,直讀光譜儀

X射線衍射儀在微觀應力的測定中的應用

微觀應力是指由于形變、相變、多相物質的膨脹等因素引起的存在于材料內各晶粒之間或晶粒之中的微區應力。當一束X射線入射到具有微觀應力的樣品上時,由于微觀區域應力取向不同,各晶粒的晶面間距產生了不同的應變,即在某些晶粒中晶面間距擴張,而在另一些晶粒中晶面間距壓縮,結果使其衍射線并不像宏觀內應力所影響的那樣單一地向某一方向位移,而是在各方向上都平均地作了一些位移,總的效應是導致衍射線漫散寬化。材料的微觀殘余應力是引起衍射線線形寬化的主要原因,因此衍射線的半高寬即衍射線強度一半處的寬度是描述微觀殘余應力的基本參數。

X射線衍射儀的關機及待機設定

1．當超過一小時不用儀器時，將光管設定至待機狀態。這將節省使用壽命。

2．待機功率至少設定至40kV/10mA，對于陶瓷光管請設定至45kV/20mA。

3．在關閉高壓后1至2分鐘內必須*關閉水冷系統。

4．千萬不要通過關閉冷卻水去關閉光管高壓。

5．通常情況下建議在下班后關閉光管高壓。

X射線衍射分析儀的優勢如下

1; 少量樣本：僅需15毫克的材料。

2; 簡便的樣本準備工作：不需要技能熟練的技術人員。

3; 快速完成采集操作：在幾分鐘之內可獲得分析結果。

4; 便于攜帶：電池供電，堅固耐用的機身設計，沒有移動部件。

5; 獨立操作的儀器：無需水冷裝置，也無需大型的外置電源。

6; 無需持續的維護服務：X射線衍射分析儀可以持續正常地工作，很少出現停運現象。