GY-MARS/T6600 X射線熒光光譜分析儀 (新)

GY-MARS/T 6600型 貴金屬分析儀是貴金屬分析儀中的產(chǎn)品。可實(shí)現(xiàn)貴金屬、鍍層、表面均勻度檢測(cè),符合新國標(biāo)GB18043-2013。該產(chǎn)品可應(yīng)用于銀行、技術(shù)監(jiān)督部門、進(jìn)出口檢疫、大型黃金企業(yè)等眾多行業(yè)。
儀器采用了電制冷SI-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器,分辨率為149eV。能很好地檢測(cè)被測(cè)物中的各種元素,降低元素間的干擾,有效測(cè)量黃金、鉑金中的銥含量。 6mm2的探測(cè)面積,具有優(yōu)秀的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)測(cè)量能力。配合來自美國的的第五代II型數(shù)字信號(hào)處理器,分析速度和系統(tǒng)處理能力在第五代I型處理器基礎(chǔ)上進(jìn)一步提高,計(jì)數(shù)率可達(dá)400萬,測(cè)試穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性比第五代I型處理器提高1倍。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1. 符合*飾新標(biāo)準(zhǔn)GB18043-2013。
3. 全封閉式金屬機(jī)箱及防泄漏保護(hù)設(shè)計(jì),更好地保障操作員的人身安全。
4. 精確的樣品成像準(zhǔn)直系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的準(zhǔn)確點(diǎn)測(cè)。
5. 的數(shù)據(jù)分析方法,使測(cè)量結(jié)果更加精確。
6. 打印機(jī)可連續(xù)打印測(cè)量報(bào)告。
7. 自定義工作曲線,可分析多種鍍層厚度。
8. 采用來自美國的*的電制冷SI-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器,探測(cè)面積6mm2,具有優(yōu)秀的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)測(cè)量能力。分辨率可達(dá)149eV,遠(yuǎn)優(yōu)于國標(biāo)GB18043-2008。因此大大降低了元素間的干擾,可準(zhǔn)確檢測(cè)鉑金含銥、黃金含銥等復(fù)雜成分樣品,防止購回業(yè)務(wù)中產(chǎn)生誤判帶來經(jīng)濟(jì)損失。
9. 采用來自美國的高壓電源,配合原廠的數(shù)字控制板,穩(wěn)定性遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國內(nèi)同類產(chǎn)品。
10. 高分辨率圖譜即時(shí)顯示,由不同色塊加以判斷區(qū)分,清晰明了,易于判別。
11. 水冷X光管配合光管保養(yǎng)程序,散熱更好,有效延長X光管壽命,降低用戶使用成本。
12. 采用來自美國的第五代II型數(shù)字信號(hào)處理器,數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性比第五代I型處理器提高1倍,技術(shù)水平。
13. 多樣品多點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)采用全自動(dòng)數(shù)控精密位移樣品臺(tái),配合我公司多年研發(fā)的專用軟件,操作簡(jiǎn)單,定位精確。可進(jìn)行多樣品多點(diǎn)連續(xù)測(cè)量及均勻度、分布梯度分析,節(jié)省時(shí)間,優(yōu)化工作流程,避免不均勻帶來的測(cè)量誤差。
具備高含量精密分析模式,可對(duì)99.9%(千足金)到99.999%進(jìn)行有效分析。
技術(shù)指標(biāo):
1.外型尺寸:710×540×435(mm)
2.樣品倉尺寸:400×340×150 ( mm )
3.重量:59kg
4.工作環(huán)境溫度:10—28℃
5.工作環(huán)境相對(duì)濕度:≤80%
6.元素分析范圍:硫(S)到鈾(U)
7.含量分析范圍:1ppm—99.99%
8. 分析精度: 0.01%-0.1%(足金以上精度≤0.05%)
9.測(cè)量時(shí)間:100-300s (推薦)
10.分辨率:149eV FWHM @ 5.9keV
11.電源:AC100—240(V)
12.電源頻率:47—63(Hz)
13.探測(cè)器類型:電制冷SI-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器
14.信號(hào)處理器:美國原產(chǎn)第五代II型數(shù)字信號(hào)處理