一、簡(jiǎn)介

       CST-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶(hù)的實(shí)際需要和GB/T229—2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口要求而開(kāi)發(fā)的一種專(zhuān)用于檢驗(yàn)夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，對(duì)比直觀。

二．方案描述

       本投影儀光源發(fā)出的光線(xiàn)經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物體，再以物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。 根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過(guò)一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上，再通過(guò)一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰地投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致。將被測(cè)度樣放在工作臺(tái)上，旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)升降手輪，調(diào)焦至影像清晰，再調(diào)整圓工作臺(tái)和縱橫向調(diào)節(jié)手輪，使已放大了50倍的試樣V型（或U型）缺口投影圖與本儀器所提供的也放大了50倍的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)尺寸圖對(duì)比，即判斷出沖擊試樣V型（或U型）缺口的幾何尺寸加工質(zhì)量。

三．主要技術(shù)參數(shù)：

1、投影屏直徑：180mm

2、光源（鹵鎢燈）：12V     100W

3、工作臺(tái)尺寸：

                       方工作臺(tái)尺寸：  110×125mm

                       圓工作臺(tái)直徑：  90mm

                       工作臺(tái)玻璃直徑：70mm 

4、工作臺(tái)行程：

                        縱向： ±10mm

                        橫向：±10mm

                        升降：±12 mm （無(wú)刻度）

5、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0～360°（無(wú)刻度）  

6、電源：220V  50Hz

7、外形尺寸：515×224×603mm          

8、重量： 約18kg

9、儀器放大倍率：         50x

      物鏡放大倍率：         2.5x

      投影物鏡放大倍率：     20x