一.產品技術質量

1.總體技術要求

*掃描方式：激光手持式

 *掃描技術：激光線網格掃描技術

幀掃描區域：250mm×230mm

景深：250mm

工作距離：300mm

*掃描速率：240000次/秒

掃描分辨率：0.10 （毫米）

*測量精度：0.03 mm

*體積精度：0.020 + 0.100（毫米/米）

體積精度（結合DigiMetric）：0.020 + 0.025（毫米/米）

測量范圍（物件尺寸）：0.1 ～6米，可擴展

傳輸方式：USB3.0

工作溫度：-10 - 40℃

工作濕度：10 - 90 %

2.三維光學掃描系統配置與功能要求

(1) 數據采集傳感器：高速、高精密工業級相機2臺

* (2) 內置微慣性傳感器，實時輸出設備位姿；

* (3) 測量光源：6 束交叉激光線，激光級別ClassII(人眼安全)，波長大于600納米

(4) 計算機系統：支持windows 操作系統，支持內存16G以上

(5) 拼接方式：系統整合“專業模式”全自動標志點拼接模塊

(6) 全局誤差控制方式：系統整合GREC Pro全局誤差控制模塊

* (7) 使用方便：整個過程全部手持完成，無需三腳架等支撐裝置

(8) 所測量的物體表面可不做任何形式（如貼標識和噴白）的預先處理

(9) 普通環境下可以測量鎏金等高光亮物體以及黑色物體

(10)防抖設計：采用的防抖動算法，防止掃描過程中人為的抖動對誤差的影響

3.三維光學掃描系統軟件功能要求

* 全中文軟件界面

 * 自適應形面掃描模塊

   (1)自動調節系統參數，自適應各種材質/顏色表面的不同掃描對象，無需手動調節；

   (2)可變點距掃描，在同一次掃描中，可對點距進行靈活設置和改變，同時滿足高速掃描以及精細掃描的需求

* 自動拼接模塊

(1)智能標志點識別技術：系統自動跟蹤識別標志點；

(2)慣性—光學混合式傳感器定位技術，實時將數據自動配準到同一坐標系；

(3)GREC Pro全局誤差控制模塊，可對拼接后的誤差進行全局控制；

* 全局框架掃描模塊

(1)全局框架掃描技術，對框架點累積誤差進行全局控制；

(2)兼容DigiMetric系統，搭載全局攝影測量技術可將掃描范圍擴展至幾十米；

   點云處理模塊

(1)掃描數據后，可進行點云噪聲處理及修剪

(2)基于曲率的點云精簡功能

(3)自動生成三角面

數據輸入輸出

(1)導出結果為ASC，STL，OBJ，OKO等格式數據輸出接口廣泛,測量結果可與CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程軟件自由交換數據。

二、三維數據處理系統備件清單

三、其它

   十堰服務商華飛，

軟件升級

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