產(chǎn)品用途：

A . 該設(shè)備主要針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性。
B . 該試驗設(shè)備主要用于產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

C . 作為品管工程的可靠性測試設(shè)備用于測試電工、電子及其它非易燃易爆物品的高低溫性能的試驗。（適用于所有行業(yè)：電子組件，如：電容、電感、電阻、二極管、三極管等；電器，如：電話機、機、汽車配件電器產(chǎn)品；塑料，如：塑料外殼，塑料產(chǎn)品等，特別適用于光纖、LCD、晶體、光伏組件、電池、計算機、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗。

D . 適用于各類電子、電工、電器、塑料等原材料和器件研發(fā)時進行的耐寒、耐熱、耐干性的考驗。作為研發(fā)產(chǎn)品的耐高低溫的依據(jù)。

設(shè)備依據(jù)：

該設(shè)備是按照下列標準之一或其結(jié)合為依據(jù)生產(chǎn)的

GB 10589-89 《低溫試驗箱技術(shù)條件》

GB 11158-2008 《高溫試驗箱技術(shù)條件》

GB 10592-09 《高低溫試驗箱技術(shù)條件》

GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》

GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》

GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則》

參數(shù)：

1 . 溫度范圍： -20℃ ~ 150 ℃

2 . 溫度波動度：≤±0.3℃

3 . 溫度均勻度：≤2℃

4 . 溫度zui低極限： -30℃（更寬的溫度范圍）

5 . 升溫速率：3-5℃/min (空載時)

6 . 降溫速率：0.7－1℃/min (空載時)

7 . 試驗箱工作室尺寸： (D) 1300x (W) 1000 x ( H) 1000（mm）

8 . 試驗箱外形尺寸：(D) 1850x (W) 1450 x ( H) 2100（mm）