一、高溫四探針測試儀器產品簡介

          HEST-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電 流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導 率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高**度,也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。

        HEST-800系列采用自主開發*的電子護系統，設備的安全性；選用進口熱電偶保定溫度的采集有效值、采用*的的SPWM 電子升壓技術，電壓輸出穩定性好。配備高精度電壓、電流傳感器以保證試驗數據的有效性。

        HEST-800系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電 流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。高精度的輸出與測量規格，保障檢測結果的品質，適用于新材料數據的檢測。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、導電功能薄膜材料、半導體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的性能測試。針探針測試儀做了多項安全設計，測試過程中有過電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機制：當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數所新開啟動后可恢復原有試驗數據。

二、高溫四探針測試儀器適用范圍

多晶硅材料

石墨烯材料

石墨功能材料

半導體材料

導電功能薄膜材料

鍺類功能材料

導電玻璃（ito）材料

柔性透明導電薄膜

其它導電材料等

三、高溫四探針測試儀器產品功能

█多功能真空加熱爐，一體爐膛設計、可實現、高溫、真空、氣氛環境下進行測試

█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度，

█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率；

█ 可實現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能;

█ 進口溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度更準確；

█ 儀器可自動計算試樣的電阻率pv;

█ 10寸進口觸摸屏設計，一體化設計機械結構，更加穩定、可靠；

█  程控電子升壓技術，紋波更低、TVS防護系統，保證儀器安  

█99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；

█huace pro 強大的控制分析軟件。