FT-2000B顆粒和粉末特性分析儀（實用型）FT-2000B顆粒和粉末特性分析儀為瑞柯儀器公司ROOKO生產(chǎn)，主要為粉末和顆粒物理特性綜合分析提供一個測試平臺和解決方案.粉體物理特性有：粒度分布、表面積、松密度、孔隙率、真密度、粒附性、表面能、表面電荷、孔徑分布、濕含量、抗張強(qiáng)度、剪切強(qiáng)度等，本儀器主要通過對粉末和顆粒振實密度、松裝密度、堆積密度、安息角（休止角）、抹刀角、崩潰角、差角、剪切性、分散度、凝集度、流動性和流動時間等項目測量綜合反映粉體流動性和表征特性狀況，本儀器通過自動化控制技術(shù)，減少人因素對測試過程之接觸帶來操作和計算誤差，各試驗項目之測試通過激光、電機(jī)、測控電子來實現(xiàn)；測試數(shù)據(jù)打印功能；儀器密碼管理、觸摸屏顯示；為粉末粉體顆粒表征研究提供可靠和數(shù)據(jù).FT-2000B顆粒和粉末特性分析儀參數(shù)及功能描述：1. 振實密度：通過定體積法或者定質(zhì)量法測得數(shù)據(jù)后，自動計算振實密度.測定振實密度和松裝密度后，直接獲得Hausner Ratio豪斯納比（振實密度/松裝密度）和壓縮性指數(shù)（振實密度-松裝密度/松裝密度x100)數(shù)據(jù).2.松裝密度：一定質(zhì)量之粉末通過孔徑漏斗自然流下后，填充容器之質(zhì)量；無需在配置稱重天平數(shù)據(jù)直接顯示，并自動計算松裝密度.3.安息角（休止角）：配置自動攪拌裝置解決流動性較差之粉體和顆粒測試，粉末通過控制閥門自動流出，并由激光探頭采集測試數(shù)據(jù)，直接顯示休止角值.4.流動時間：一定質(zhì)量通過漏斗之時間，自動獲得無需人工操作，自動開始和停止計時.并顯示數(shù)據(jù)5. 崩潰角和平板角：由激光探頭直接獲得數(shù)據(jù)；由休止角與崩潰角可以直接獲得差角數(shù)據(jù).6. 空隙率：空隙率是指粉體中的空隙占整個粉體體積的百分比。無需另外稱重和計算，測試完直接獲得空隙率數(shù)據(jù)，因粉體的粒子形狀、排列結(jié)構(gòu)、粒徑等因素的不同而變化。顆粒為球形時，粉體空隙率為40%左右；顆粒為超細(xì)或不規(guī)則形狀時，粉體空隙率為70-80%或更高7. 剪切性：粉末剪切強(qiáng)度測試8.適用范圍：建議2500微米以下粉體顆粒測試。 FT-2000B顆粒和粉末特性分析儀（實用型）FT-2000B顆粒和粉末特性分析儀為瑞柯儀器公司ROOKO生產(chǎn)，主要為粉末和顆粒物理特性綜合分析提供一個測試平臺和解決方案.粉體物理特性有：粒度分布、表面積、松密度、孔隙率、真密度、粒附性、表面能、表面電荷、孔徑分布、濕含量、抗張強(qiáng)度、剪切強(qiáng)度等，本儀器主要通過對粉末和顆粒振實密度、松裝密度、堆積密度、安息角（休止角）、抹刀角、崩潰角、差角、剪切性、分散度、凝集度、流動性和流動時間等項目測量綜合反映粉體流動性和表征特性狀況，本儀器通過自動化控制技術(shù)，減少人因素對測試過程之接觸帶來操作和計算誤差，各試驗項目之測試通過激光、電機(jī)、測控電子來實現(xiàn)；測試數(shù)據(jù)打印功能；儀器密碼管理、觸摸屏顯示；為粉末粉體顆粒表征研究提供可靠和數(shù)據(jù).FT-2000B顆粒和粉末特性分析儀參數(shù)及功能描述：1. 振實密度：通過定體積法或者定質(zhì)量法測得數(shù)據(jù)后，自動計算振實密度.測定振實密度和松裝密度后，直接獲得Hausner Ratio豪斯納比（振實密度/松裝密度）和壓縮性指數(shù)（振實密度-松裝密度/松裝密度x100)數(shù)據(jù).2.松裝密度：一定質(zhì)量之粉末通過孔徑漏斗自然流下后，填充容器之質(zhì)量；無需在配置稱重天平數(shù)據(jù)直接顯示，并自動計算松裝密度.3.安息角（休止角）：配置自動攪拌裝置解決流動性較差之粉體和顆粒測試，粉末通過控制閥門自動流出，并由激光探頭采集測試數(shù)據(jù)，直接顯示休止角值.4.流動時間：一定質(zhì)量通過漏斗之時間，自動獲得無需人工操作，自動開始和停止計時.并顯示數(shù)據(jù)5. 崩潰角和平板角：由激光探頭直接獲得數(shù)據(jù)；由休止角與崩潰角可以直接獲得差角數(shù)據(jù).6. 空隙率：空隙率是指粉體中的空隙占整個粉體體積的百分比。無需另外稱重和計算，測試完直接獲得空隙率數(shù)據(jù)，因粉體的粒子形狀、排列結(jié)構(gòu)、粒徑等因素的不同而變化。顆粒為球形時，粉體空隙率為40%左右；顆粒為超細(xì)或不規(guī)則形狀時，粉體空隙率為70-80%或更高7. 剪切性：粉末剪切強(qiáng)度測試8.適用范圍：建議2500微米以下粉體顆粒測試。
