
M?nch是一個用于 STEM,可以實現的信噪比和高的光譜分辨率陰極發光檢測器。它可以幫助研究人員實現對單個納米粒子,量子點或原子缺陷測量進行超高分辨率的圖像和高光譜圖譜的檢測。
當您使用 M?nch進行陰極熒光光譜的探測,能夠最短的時間內達到所需的信噪比是至關重要的,這樣您才可以在短時間內測試更多的樣品。Attolight 采用創新技術,在與樣品毫米級的間距范圍內,實現了大面積區域寬立體角高效率收集光子,而且僅僅只需利用 STEM 上的一個擴展孔。
M?nch強大而高效。首先,反射鏡經過精心設計,獲得的曲率半徑和小型化水平;它可以適應在市場上大多數校正的 STEM 設備,同時保持足夠的剛度和 3 個自由度,允許完成亞毫米級的調整。
其次,M?nch直接收集樣品的陰極發光并耦合到光纖內,保證信號到達光譜儀的強度。并且一個超快 EMCCD 相機測量信號并實現高的光譜分辨率,高光譜掃描能在幾秒鐘內完成。數據可以直接通過其他技術(EELS, EDS)的軟件采集且并行顯示。