兩槽式冷熱沖擊箱TSD
適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、航天等制品檢測質(zhì)量之用。電子產(chǎn)品80L恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱，多段編程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱
兩槽式冷熱沖擊箱TSD
本系列環(huán)境實(shí)驗(yàn)箱可為用戶檢驗(yàn)、檢測電子電工元器件、零配件或相關(guān)行業(yè)的實(shí)驗(yàn)部門提供一個模擬環(huán)境，為測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和*性(可重復(fù))提供*條件。該產(chǎn)品具有簡單的操作性能和可靠的設(shè)備性能，便捷操作的計(jì)測裝置，結(jié)構(gòu)一體化程度高，科學(xué)的空氣流通設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫濕度均勻，避免任何死角；完備的保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生的隱患，保證設(shè)備的長期可靠性
兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱參照標(biāo)準(zhǔn)
本試驗(yàn)箱符合GB/T2423.1 低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2高溫試驗(yàn)方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法。
GJB 150.3高溫試驗(yàn)；GJB 150.4 低溫試驗(yàn)；
GB10588-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗(yàn)
兩槽式冷熱沖擊箱TSD
兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)
1.設(shè)置方式：觸摸，點(diǎn)擊
2.顯示方式：彩色LCD背光觸摸屏中文顯示
3.設(shè)定、顯示分辨率:溫度（0.1℃）；時(shí)間（1min）
4.圖形顯示：完整顯示設(shè)定程序曲線。
5.設(shè)置參數(shù)保存時(shí)間:充滿電后,數(shù)據(jù)可保存5年。
6.程序數(shù):1～499（Z大499個程序）。
