離子遷移測試裝置（CAF）（Ion Migration Test Device）用于測試電子產品中的材料是否存在離子遷移現象。其原理是在加速電場的作用下，使樣品中的離子遷移到對面的電極上，從而檢測出樣品中是否存在離子遷移。
通常該裝置由兩個電極、電源、電壓控制器和采樣器等部分組成。樣品被放置在兩個電極之間，然后施加電場并記錄電流隨時間的變化情況。如果電流隨時間逐漸增加，則說明樣品中可能存在離子遷移現象。
離子遷移測試裝置（CAF）主要用于評估電子產品中使用的材料是否能夠滿足相關標準和法規的要求，以確保產品的可靠性和耐久性。
ECM-100離子遷移測試裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ）。
ECM-100離子遷移測試裝置產品優勢
簡單/便利
△采用驅動計測，測試時焊接工序大幅減少。
△軟件設計簡單明了，能夠非常直觀得操作。
△配有過程中的記錄、報告相關的報表功能。
△測試中，設備可以單獨運行，電腦電源切斷也不受影響。
高性能&高機能
△因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路，可以做到16ms的計測間隔。
→遷移現象的檢測能力更高，對產品品質把控更精準。
△一臺電腦可以增設400通道。
△每個通道可以設定不同的電壓。
可靠性更高&操作更簡潔
△具有自身診斷機能，把異常計測防范于未然。
△配有CF卡，以防設備故障數據丟失。
△每個單元獨立，其中一個單元損壞，可以單獨拆卸維修，而不影響其他通道使用。
△標準配置也可以接入1~300V的電壓范圍。
用途
△PCB板、焊接、樹脂、導電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。
△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置，可以在多領域利用。
實例
△測試難度大的高阻值也能除去干擾，清晰得進行測試。
△16msec的高速抽樣處理，不會漏掉任何一個數據。
△電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。
離子遷移測試裝置
