【高低溫沖擊試驗箱】又稱冷熱沖擊試驗機根據試驗需求及測試標準分為兩箱式動態沖擊和三箱式靜態沖擊，區別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產品在測試時是放置在試驗室內，不需要移動可以進行通電試驗。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現高低溫的切換，產品放在提籃里，隨提籃一起移動。
此系列既可作冷熱沖擊試驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、單位、電工電子、儀器儀表、材料設備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產品篩選等，同時可通過此試驗，進行產品的質量控制。
型 號 | PD/GCH--100L | PD/GCH--150L | PD/GCH--225L |
工作室尺寸 [深×寬×高 mm] | 400*450*550 | 500*500*600 | 500*600*750 |
型 號 | PD/GCH--408L | PD/GCH--500L | PD/GCH--800L |
工作室尺寸 [深×寬×高 mm] | 600*800*850 | 700*800*900 | 800*1000*1000 |
【產品主要參數和配置】：
性能指標 | 溫度范圍 | ① -20℃～200℃； ② -40℃～200℃; ③ -60℃～200℃ | ||
溫度偏差 | ±2℃ | |||
樣品區溫度波動 | ±0.5℃（空載時） | |||
升溫速率 | 2～3℃/min | |||
溫度范圍（測試區） | （高溫區：+60℃～+200℃；低溫區-10℃～-65℃） | |||
升溫時間（蓄熱區） | RT～200℃約需35min | |||
降溫時間（蓄冷區） | RT～-70℃約需50min | |||
溫度恢復時間 | ≤5min內 | |||
定時功能 | 1～9999（S、M、H）可調 | |||
降溫速率 | 2～3℃/min | |||
產品轉換時間 | 從低溫區到高溫區或從高溫區到低溫區≤2S | |||
溫度均勻度 | ±2℃ | |||
溫度沖擊方法 | 左右式兩箱法/垂直三箱法(兩箱式冷熱沖擊試驗箱/三箱式冷熱沖擊試驗箱 | |||
樣品區承重 | 30kg | 50 kg | 60kg（可以根據客戶試驗要求定制） | |
溫度運行控制系統 | 溫度沖擊控制器 | 韓國TEMI 8826控制器，7英寸高清真彩液晶觸摸顯示屏，溫度控制采用P·I·D+S·S·R系統同頻道協調控制；具有自動演算的功能，可編程及海量存儲歷史數據及曲線。帶RS-232或RS-485通訊界面，并支持電腦實時監控、歷史曲線回放、程序編輯、FTP上傳下載、歷史故障查看、遠程定值/程序控制等功能。 | ||
精度范圍 | 設定精度：溫度0.1℃，指示精度：溫度0.1℃，解析度：0.1℃ | |||
記錄裝置 | 可選配記錄儀 | |||
溫濕度傳感器 | 鉑金電阻PT100Ω/MV | |||
加熱系統 | 全獨立系統，鎳鉻合金電加熱式加熱器 | |||
循環系統 | 耐溫低噪音空調型電機.多葉式離心風輪 | |||
制冷系統 | 電磁閥/電器 | 卡士妥 / 施耐德和歐姆龍 | ||
干燥過濾器 | 丹佛斯 | |||
膨脹閥 | 美國艾高” | |||
制冷壓縮機 | 進口全封閉壓縮機(法國泰康或德國谷輪) | |||
冷卻系統 | 半密閉式復疊壓縮機（水冷式）/全密閉式復疊壓縮機（風冷式） | |||
產品材料 | 外箱材質 | 1.優質碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理。 2. SUS304不銹鋼霧面線條發紋處理。 （2種可選） | ||
內箱材質 | SUS304不銹鋼優質光板 | |||
保溫材質 | 聚氨酯硬質發泡、超細玻璃纖維綿 | |||
門框隔熱 | 雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條 | |||
觀測視窗 | 照明燈保持箱內明亮，且利用發熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。 | |||
箱體腳輪 | 機器底部采用高品質可固定式PU活動輪 | |||
標準配置 | 試品架2個、測試引線孔φ50mm1個（可根據要求開孔） | |||
安全保護 | 漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護 | |||
電源電壓 | AC380V±10% 50±0.5Hz 三相五線制 | |||
使用環境溫度 | 5~+35℃ | |||
部分滿足標準 | GJB150.5-2009溫度沖擊試驗 | |||
GB11158-2008高溫試驗箱技術條件 。 | ||||
GB10589-2008低溫試驗箱技術條件 | ||||
GB/T 2423.22-2002溫度變化。 | ||||
GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件（溫度交變） | ||||
GJB150.3A-2009裝備實驗室環境試驗方法第3部分：高溫試驗 | ||||
GJB150.4A-2009裝備實驗室環境試驗方法第3部分：低溫試驗 | ||||
| GB/T2423.22-2012電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14) | ||||
GB/T2423.1-2008電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007) | ||||
GB/T2423.2-2008電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007) | ||||
