Loop 測(cè)試
自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能
開(kāi)機(jī)自我偵測(cè)診斷功能
過(guò)載保護(hù)功能
可量測(cè)之 IC 種類(lèi)超過(guò) 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可測(cè) Pin 數(shù) : 28 Pin
規(guī) 格 | |
測(cè)試范圍 | 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
55 及 75 系列 TTL | |
量測(cè)種類(lèi) | 約 1800 種 |
測(cè)試電壓 | 5V DC |
測(cè)試時(shí)間 | 高測(cè)試速度,平均 0.8 秒可完成一個(gè) IC |
使用電源 | 交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
附件 | 電源線(xiàn) x 1, 操作手冊(cè) x 1 |
尺寸及重量 | 335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm, 約 1.5 公斤 |
機(jī) 種 | 主要功能或用途 |
GUT - 6000A | 數(shù)位IC測(cè)試器 |
GUT - 6600 | 掌上型數(shù)位IC測(cè)試器 |
GUT - 6001 | 類(lèi)比IC測(cè)試器 |
Loop 測(cè)試
自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能
開(kāi)機(jī)自我偵測(cè)診斷功能
過(guò)載保護(hù)功能
可量測(cè)之 IC 種類(lèi)超過(guò) 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可測(cè) Pin 數(shù) : 28 Pin
規(guī) 格 | |
測(cè)試范圍 | 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
55 及 75 系列 TTL | |
量測(cè)種類(lèi) | 約 1800 種 |
測(cè)試電壓 | 5V DC |
測(cè)試時(shí)間 | 高測(cè)試速度,平均 0.8 秒可完成一個(gè) IC |
使用電源 | 交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
附件 | 電源線(xiàn) x 1, 操作手冊(cè) x 1 |
尺寸及重量 | 335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm, 約 1.5 公斤 |
機(jī) 種 | 主要功能或用途 |
GUT - 6000A | 數(shù)位IC測(cè)試器 |
GUT - 6600 | 掌上型數(shù)位IC測(cè)試器 |
GUT - 6001 | 類(lèi)比IC測(cè)試器 |