MZ-B105冷熱沖擊試驗箱
系統(tǒng)組成整體概述
本系列程序兩箱式高低溫冷熱沖擊試驗箱主要用于測試材料對*溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊試驗?zāi)苁垢鞣N物品在短的時間內(nèi)完成測試。熱震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，采用PID系統(tǒng)，各類
產(chǎn)品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學變化，PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動控制，將使您操作簡易。
冷熱沖擊試驗機是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。分
為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標準為：GB/T2423.1-2008試驗A、GB/T2423.2-2008試驗B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。
滿足的試驗方法：GJB150.5-86 溫度沖擊試驗，符合MIL，IEC，JIS規(guī)范。
冷熱沖擊試驗箱用途：
高低溫冷熱沖擊試驗箱廣泛用于電子電器零元件、自動化零部件、通訊元件、汽車 配件、金屬、化學材料、塑膠等行
業(yè)國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、
低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機械的元件，
可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。
冷熱沖擊試驗箱滿足標準：
GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗A：低溫試驗方法。
GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗B：高溫試驗方法。
GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗。
GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。
標GJB150.3-86；
標GJB150.4-86；
標GJB150.5-86；
設(shè)備技術(shù)協(xié)議
設(shè)備名稱 | 冷熱沖擊試驗箱(兩箱式) | |
容積L | 80L×2 | |
溫濕度控制儀表 | 可編程韓國進口TEMI990，觸摸屏輸入，中英文切換。 根據(jù)客戶要求可任意設(shè)定不同溫度點 | |
箱體結(jié)構(gòu) | 此設(shè)備分為：高溫測試區(qū)，低溫測試區(qū) | |
內(nèi)箱尺寸 | 400mm×400mm×500mm寬*深*高 | |
外型尺寸(約) | 1550mm×1550mm×1900mm寬*深*高 | |
結(jié) 構(gòu) 及 重 要 參 數(shù) | 高溫箱溫度設(shè)定范圍 | 常溫～+85℃（可編程任意設(shè)定） |
高溫箱升溫時間 | 2℃/min | |
低溫箱溫度設(shè)定范圍 | -10℃～-40℃（可編程任意設(shè)定，-40℃為預冷溫度，實際沖擊溫度為-30℃） | |
低溫箱升溫時間 | 1℃/min | |
溫度波動度 | ±1℃ | |
溫度均勻度 | ±2℃ | |
控制器控制精度 | ±0.2℃ | |
沖擊時間 | 5min | |
吊籃移動時間 | 高溫槽～低溫槽 10秒以內(nèi) | |
外殼材料 | 不銹鋼板 | |
內(nèi)箱材料 | SUS＃304加厚耐熱耐寒不銹鋼板，一級光面板 | |
保溫材料 | 高密度玻璃棉及高強度PU發(fā)泡絕緣材料 | |
箱體均勻度 | ±1℃ | |
送風循環(huán)系統(tǒng) | 采日制多翼離心式循環(huán)風扇，日制馬達整組 | |
加熱器 | U型鰭片式304#無縫鋼高速加溫電熱器。 | |
制冷壓縮機 | 采用法國泰康加大匹全封密壓縮機 | |
制冷配件 | 臺彎中力蒸發(fā)器、馬爾風機等 | |
制冷方式 | 采用風冷散熱 | |
樣品架 | 樣品層置物架 | |
電氣配件 | 電氣元件 | |
配線方式 | 本公司電控配線方式按照電工標準執(zhí)行 | |
保護裝置 | 壓縮機過熱，超溫，超載，高壓，低壓，油壓，過流，欠相， 停電待機等報警警示. | |
電源 | AC380V 50~60Hz 13KW | |
