產品原理
XRD分析儀 便攜式X射線衍射儀當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關，這就是X射線衍射的基本原理。
XRD分析儀 便攜式X射線衍射儀
應該范圍
礦石與礦產
快速分析富含鐵的礦石，比如:石英、赤鐵礦、針鐵礦、磁鐵礦；
對煤中的方解石(CaCO3)進行定量分析；
對碳酸鉀、鉀鹽、巖鹽、無水鉀鎂礬及鉀鎂礬等辨別出的礦物進行晶相識別和半定量分析；
對混有石灰石的普通礦石進行定量分析，比如：a-石英、石棉礦石、方解石、白云石；
用于對尾礦進行重新分析，以判斷工廠的操作性能，或者對以往的項目進行評價.
石油化工
對油田的頁巖巖屑進行礦物識別和定量，以在地質導向和水平鉆井的現場迅速獲得反饋，簡化對特定礦物層進行“追蹤礦脈走向”的工作；
辨別和定量管線中的腐蝕材料，還可以同時進行xrf測量，以快速辨別材料的元素成分.
爆炸物/危險物
現場快速辨別爆炸物和可疑爆炸物；
辨別和定量可疑的危險材料、熔融材料及催化劑；
用于違禁品鑒定、法醫物證鑒定、海關核查等執法工作.
制藥業
快速辨別藥物；
快速鑒別藥品原輔料；
對藥品制劑、前體藥物進行快速無損的指印分析；
對藥物中的活性和非活性成份、外來成份或替代成份的存在狀況及含量進行檢測.
| XRD分辨率 | 0.2°@2θ FWHM |
| XRD范圍 | 5-55°2θ |
| 探測器 | 2000 X 256像素,2維3級Pelter制冷CCD |
| X射線管靶材 | 集束微焦斑X射線管 Cu 或 Co, Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根據檢測樣品選配) |
| X射線管電壓 | 50kV最大，0-50kV可調節 |
| X射線管功率 | 50W最大，0-50W可調節 |
| XRF能量分辨率 | 127eV@8keV |
| XRF檢測范圍 | 鎂(Mg)一鈾(U) |
| 樣品顆粒大小 | 樣品顆粒<150um (100目篩) |
| 樣品量 | 約 20mg |
| 工作溫度 | -10°C-35°C |
| 重量 | 14Kg |
| 電源 | 鋰離子電池或電源適配器 |
| 尺寸 | 48.5 cm X 39.2 cm X 19.2 cm |
| CrystalX分析軟件語言 | 中文、英語等 |
X射線衍射儀 晶體結構檢測 礦石分析 物相分析 元素成分檢測
XRD分析儀 便攜式X射線衍射儀
產品配置
映系統由X光管，X射線準直器、探測器、冷卻系統、樣品振動系統、CrystalX物相分析系統軟件等主要部件構成.
X射線準直器
X射線準直器采用針孔準直系統，替代傳統大型臺式機的光學校準部件，光柵作用一致.
X光管
儀器配置集束微焦斑X射線管，可保證X射線良好的聚焦性，靶材標準配置為Cu或Co，并可根據檢測樣品情況選擇使用Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W等。集束微焦斑X射線管保證了X射線良好的聚焦性.
冷卻系統
采用三級Peltier電子制冷和專用的雙向通風式散熱裝置，可有效保證探測器正常工作溫度.
X射線衍射儀 晶體結構檢測 礦石分析 物相分析 元素成分檢測
樣品振動系統
樣品振動系統替代傳統測角儀，在樣品檢測過程中，X光束和探測器均靜止不動，而所檢測樣品通過磁性連鎖裝置高速振動，保證樣品顆粒的隨機性，以獲取更高品質的衍射信息.
XRD分析儀 便攜式X射線衍射儀
CrystalX物相分析系統
除了采用高品質、高性能的硬件配置外，映還配備了高智能、高效的晶體X應用分析軟件.使儀器更加可靠、精確，晶體X射線衍射控制系統與物相分析系統結合，可簡化圖像平滑、尋峰、精修等工作，輕松實現一鍵出結果。
XRD分析儀 便攜式X射線衍射儀
