技術細節：

研究級光譜性能

SENTERRA II具備*的檢測敏感度和高譜圖分辨率，同時不犧牲共聚焦能力。

大多數應用只需要標準光柵。該儀器可在一次掃描可覆蓋整個拉曼光譜，分辨率達到4cm-1。對于諸如同位素分裂或多晶態等要求苛刻的研究，可通過點擊鼠標輕松設置高分辨率光柵。

直觀方便的操作

對于常規用戶和專家而言，SENTERRA II都是一種操作使用非常方便和直觀的系統。它是一種軟硬件緊密結合的儀器。軟件可引導操作人員完成顯微拉曼分析的所有步驟，而所有相關硬件調整均可自動完成。

*的波數精度和準確性

為取得精確結果，必須對波長軸進行準確校準。布魯克*特色的SureCALTM技術可確保在任何時間自動性校準波長軸，無需用戶任何操作。

保證可靠性

使用SENTERRA II，您可以放心的是，測試結果始終是可靠的。歸功于儀器全自動驗證程序，儀器自動完成性能驗證，同時不浪費寶貴的分析時間。在實際分析過程中，波長軸可性自動校準，從而保證光譜精度和準確性。

方便的拉曼成像

SENTERRA II提供強大的共聚焦拉曼成像和面掃描功能，無需進行費時費力的參數調整即可直接使用。高效數據采集結合高精度面掃描臺可實現亞微米空間分辨率和快速拉曼成像。即便是高精度拉曼成像也可在短短數秒之內測定。

克服熒光

選擇合適的激光激發，獲得有意義的拉曼譜圖，而不受熒光背景干擾，是非常重要的。SENTERRA II和FT-Raman技術結合，增加第四個近紅外激光1064nm，可以將不愿看到的熒光減小到*。顯微FT-Raman也可以通過RamanScopeIII實現。

應用：

SENTERRA II能夠測量拉曼成像，并將所獲取的空間分辨分子結構信息與樣品的高質量顯微圖像結合在一起。用戶無需制備和接觸樣品即可完成分析，并可獲取空間分辨率精細至一微米以下的樣品表面化學圖成像。此外，透光樣品的深度剖面分析功能支持對樣品進行非破壞性三維檢測。SENTERRA II應用廣泛，適合用于有機和無機材料的檢測、辨別和識別。

藥物：

      · 區分同物質的不同晶型

      · 藥片中的API和賦形劑分布可視化

      · 失效分析：顆粒物和雜質鑒定

聚合物：

      · 純聚合物和混合聚合物識別

      · 多層膜分析

      · 聚合物表征：結晶度、密度、形態/判定單體含量、充填劑和添加劑

      · 失效分析：雜質識別

涂層和表面：

      · 研究涂層和表面構成和均勻性

材料學：

      · 區分非晶硅和微晶硅

      · 新型2D材料和碳納米管表征

法庭科學：

      · 鑒別取自犯罪現場的痕跡物證，譬如纖維、顆粒物、漆片等

      · 藝術品真品鑒別

      · 偽造文件、藥物和錢幣鑒別

      · 違禁藥物分析

藝術和文化遺產：

      · 藝術作品材料識別

      · 真假古董鑒別

      · 藝術品保護、降質和老化研究

生命科學：

      · 細胞和組織分子結構研究