Tip-Enhanced Raman (TERS): chemical imaging at the nanoscale
- Tip-Enhanced Raman (TERS) image of a graphene oxide flake and several carbon nanotubes chemically resolved down to 15nm.
HORIBA拉曼技術非常容易與掃描探針顯微鏡（SPM）耦聯(lián)。我們所提供的完美解決方案使用直接光路耦合，對其進行優(yōu)化以實現(xiàn)高通量。該平臺可以把原子力顯微鏡（AFM）、近場光學技術（SNOM, NSOM）、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺多功能的儀器中，以實現(xiàn)針尖增強拉曼散射（TERS）或共點測量。
HORIBA和幾乎所有的制造商合作，包括AIST-NT、安捷倫、Asylum Research、布魯克（原來的Veeco）、JPK、Nanonics和Park。
- 單層、雙層和三層石墨烯的共點AFM和拉曼成像
AFM和其他SPM技術可提供分子級別分辨率下的形貌、力學、熱能、電磁場和近場光學特性。
共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細化學信息。
同步測量的*平臺，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
結(jié)合高性能和易用性，HORIBA將會根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個可靠、全功能的解決方案
針尖增強拉曼光譜(TERS)的光學、機械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設計的，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗做技術支持，您可以自信地使用這一技術。
一個工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率
由于納米材料具有特殊的化學屬性，拉曼峰信號較強，因此在光學顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進行搜索和定位。在找到樣品后，我們可以對感興趣的位置進行形貌、機械、電學和熱能分析。
交叉驗證您的數(shù)據(jù)！
拉曼光譜可以證實材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對比度較差而難以確定層厚，拉曼則可以從另外一個角度去獲得相同的信息，此外拉曼還提供更多有關結(jié)構和缺陷的信息，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。
獲得感興趣納米結(jié)構的化學信息
在表征納米結(jié)構時，有時僅獲得物理性質(zhì)是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細的化學成分信息，這是其他SPM傳感器無法實現(xiàn)的。
探索TERS（針尖增強拉曼散射）領域
TERS（或納米拉曼）可以綜合兩種技術之優(yōu)勢：可獲得空間分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化學特異性拉曼光譜成像。該技術可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。
HORIBA的AFM-拉曼平臺支持多種光學方案：
底部耦聯(lián)：針對透明樣品
頂部耦聯(lián)：針對共點拉曼或傾斜針尖的TERS
側(cè)向耦聯(lián)：測定不透明樣品的TERS的解決方案
可提供多端口和并排配置
