供應回收Agilent安捷倫E5070B網(wǎng)絡分析儀

Agilent安捷倫E5070B射頻網(wǎng)絡分析儀300 kHz-3GHz

主要特性與功能

在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
頻率范圍：E5070B(300KHz-3GHz) E5071C(300KHz-8.5GHz)
Agilent ENA系列網(wǎng)絡分析儀能為研發(fā)評估和生產(chǎn)測試完成快速、精確的射頻元件測量。
E5070B型和E5071B型都具有一體化的2、3或4個測試端口，從而能對從2端口濾波器到多端口器件如雙工器和耦合器的各種元件進行測量。ENA系列提供內置平衡測量、匹配電路模擬和端口特性阻抗變和差動放大器給出精確測量結果。這些綜合測試能力可以進行快速、精確的測量并提高工作效率。
E507B—008 頻偏模式
E507B—010 時域分析能力
E507B—214 2端口S參數(shù)測試裝置
E507B—314 3端口S參數(shù)測試裝置
E507B—414 4端口S參數(shù)測試裝置
E507B—016 觸摸屏彩色LCD
E507B—1E5 高穩(wěn)定度頻率基準
校準件 HP85033D/E (3.5mm)
校準件 HP85032B (N型)

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