溫濕度測(cè)試箱
詳細(xì)介紹溫濕度測(cè)試箱用途
溫濕度測(cè)試箱應(yīng)用在航空工業(yè)、國(guó)防研發(fā)、高校院所科研、半導(dǎo)體材料芯片制備、新能源動(dòng)力電池模組、太陽(yáng)能光伏制造、電工電子元器件、LED、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高溫、低溫、交變溫濕的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類材料和元器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐溫濕交變循環(huán)試驗(yàn)。
溫濕度測(cè)試箱技術(shù)參數(shù)
1. 工作室容積：80L，120L，150L，225L，306L，408L，800L，1000L。
2. 溫度范圍：0～+150℃；-20～+150℃；-40～+150℃；-60～+150℃；-70～+150℃。
3. 濕度范圍：20%～98%R.H。（選購(gòu)：5%～98%R.H或10%～98%R.H，溫濕度全程同步線性。）
4. 溫度波動(dòng)度：±0.5℃。
5. 濕度波動(dòng)度：±1.0%R.H。
6. 溫度均勻度：≦2.0℃。
7. 濕度均勻度：±3.0%R.H。
8. 溫度/濕度偏差：≦±2.0℃/≦3.0%R.H。
9.升溫速率：3℃～4℃/min。（選購(gòu)：5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min，快速溫變線性或非線性機(jī)型。）
10.降溫速率：0.7℃～1℃/min。（選購(gòu)：5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min，快速溫變線性或非線性機(jī)型。）
11. 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304#鏡面不銹鋼。
12. 外箱材質(zhì)：寶鋼冷軋鋼板靜電噴塑防腐處理。
13. 制冷系統(tǒng)：*壓縮機(jī)低噪音模塊化熱交換風(fēng)冷或水冷設(shè)計(jì)制冷機(jī)組。
14. 加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，加熱空氣式控溫。
15. 加濕系統(tǒng)：鈦合金護(hù)套式電加熱加濕器，均勻濕氣發(fā)生裝置。
16. 節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。
17. 制冷劑：R404a/R23。
18. 制冷方式：機(jī)械單級(jí)制冷或二元復(fù)疊制冷。
19. 保護(hù)裝置：壓縮機(jī)過(guò)載、過(guò)流、超壓保護(hù)、漏電保護(hù)、內(nèi)箱超溫保護(hù)、加熱管空焚保護(hù)。
20. 標(biāo)準(zhǔn)配置：觀測(cè)窗一個(gè)、LED視窗燈一支、保險(xiǎn)管2支、物料架2套。
21. 電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。
22. 溫濕度測(cè)試箱標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)和規(guī)格選擇如下，可按需求非標(biāo)定制。
型 號(hào) 內(nèi)箱尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
ZK- HWS-80L W400×H500×D400 W1000×H1330×D850
ZK-HWS-120L W500×H600×D400 W1000×H1530×D850
ZK-HWS-150L W500×H600×D500 W1000×H1850×D950
ZK-HWS-225L W500×H750×D600 W1000×H1680×D1050
ZK-HWS-408L W600×H850×D800 W1100×H1780×D1250
ZK-HWS-800L W1000×H1000×D800 W1500×H1930×D1250
ZK-HWS-1000L W1000×H1000×D1000 W1500×H1930×D1450
溫濕度測(cè)試箱參考標(biāo)準(zhǔn)
1.GJB150.3A-2009（MIL-STD-810D）高溫試驗(yàn)。
1.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
2.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
3.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。
4.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)。
5.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)。
6.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn)。
7.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫。
8.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫。
9.GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)。
10.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱。
11.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)。
12.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)。
