雷達物位計廠房

雷達物位計是一種非接觸、低維護量的測量方式。雷達測量技術(shù)可以測量從發(fā)射信號到返回信號的時間差，從而測算可測量距離和物位，由于微波信號的傳輸不需要借助，所以它*不受工藝過程中蒸汽、壓力、粉塵或溫度的影響； 雷達物位計運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號的一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。它是通過發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。             

雷達物位計廠房

工作原理
微波物位計工作方式類似雷達：向被測目標(biāo)發(fā)射微波，由目標(biāo)反射的回波返回發(fā)射器被接收，與發(fā)射波進行比較，確定目標(biāo)存在并計算出發(fā)射器到目標(biāo)的距離。

應(yīng)用特點：                                                                                                         

1. 適用于測量過程容器以及苛刻或惡劣工況條件下的液體或漿料；

2.適用于測量儲罐液體、漿料。是用于粉塵或低介電常數(shù)的液體測量的理想選擇；          

3. 它提供了*的信噪比，并集成了更*的“現(xiàn)場智能”技術(shù)，可用各種固體的測量；                                                                                                                                       雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害，還具有不受介質(zhì)比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經(jīng)濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。