概述

Parsum IPP 80 適用于食品和制藥應用，可用于批量制粒工藝中的端點檢測，以及連續制造工藝的實時監控。 適合在磨碎、團聚、制粒、涂層以及篩分等設備操作中使用。

• 緊湊、輕巧且便于安裝，可與新型加工設備或現有加工設備快速整合
• 表征范圍為 50 μm 至 6mm 且速度高達 50 m/s 的顆粒
• 高固體負荷的可重復測量，支持實時流化床監控
• 通過綜合型、客制化軟件進行實時測量及反饋。
• 無需樣品提取即可執行測量
• 提供多種支持測量研磨類及粘性顆粒的附件
• 符合在 0 區和 20 區內操作的 ATEX 要求。

工作原理

Parsum 探頭采用空間濾波測速的測量理論。 這是一種以數字為基礎的弦長測定法，通過收集各個顆粒的數據，獲得顆粒粒度分布和速度分布。

穿過 Parsum 探頭測量區的顆粒會阻止激光光源發出的光線。 使用由光纖組成的線性監測器陣列可監測產生的陰影。 通過跟蹤顆粒陰影在順序監測器元素中的移動，可計算顆粒速度。 通過測量顆粒阻止單條光纖的時長，可確定顆粒粒度。

測量大量顆粒可得出令人滿意的可靠結果，從而導出各種粒度參數以及體積分布的參數。

Parsum 探頭可直接安裝在工藝管道內或容器內。 雖然無需備制樣品，但仍可采用內部壓縮空氣來分散團塊，保持流道與光學器件無材料，同時可在高固體負荷條件下進行測量。

信息從測量區域通過光纖電纜傳遞至探頭的電子外殼，增加了儀器的穩健性。 探頭與計算機之間可使用長達 100m 的直接電纜連接，從而支持在安全區域內操作系統。 通過 4-20mA 信號可將結果報告給 PCL，或者使用 OPC 或 TCP 服務器報告給工廠控制系統。

技術指標

顆粒粒度

測量范圍：:

50μm 至 6mm

速度測量范圍:

0.01 - 50m/s

濃度范圍:

高達 30v%*

與分散劑、添加劑及樣品接觸的材料:

316L 不銹鋼（DIN1.4435，1.4404）

Sapphire 窗口

注解:

* 取決于樣品和顆粒特性

重量與尺寸

尺寸：:

101mm x 85mm x 65mm

探頭

長度:

282mm

直徑:

25mm

運行環境

溫度（可控）:

高達100 °C

溫度范圍:

10 °C - 60 °C

壓力:

高達 15 bar

濕度:

35% - 80%無冷凝

外殼防護等級:

IP 65

防爆裝置:

0/20 區通過 ATEX 認證

電源功率:

100-240 V，50-60 Hz

常規

光源:

670 nm

激光安全：:

1 類

支持

利用 Malvern 服務計劃保護您的投資，并確保隨時達到性能。

當您購買了 Malvern 產品，我們明白，這僅是建立工作關系的步，而這種關系將伴隨產品的整個使用壽命。 根據您的需要，Malvern 將為您的業務提供支持。

幫助臺

• 及郵件支持。
• 負責接聽您的接線員，保證及時回答您的疑問

培訓

• 用戶培訓活動

軟件下載

• 簡便的升級與新功能更新機制

Malvern 服務選項 - 選擇適合您的計劃：

Malvern 白金計劃

適用于儀器正常運行時間大化是確保日常性能關鍵所在的實驗室。 一旦不幸發生事故，我們的別響應以及“全包式”定價計劃將涵蓋這些意外維修的費用。

Malvern 黃金計劃

保持儀器效率，以提高實驗室的生產率。 仍然能夠得到優先響應，加上專家級的技術和軟件支持，使您的儀器始終保持高性能。

Malvern 青銅計劃

適用于需要優化儀器性能的實驗室，定期預防性維護是其重中之重。

*包含人工和差旅費用***需另外收費