TDM-10 小型X射線衍射儀
TDM-10型X射線小型衍射儀，主要用于對粉末、固體和類似糊狀材料進行物相分析，該設備體積小，重量輕，耗電少，能快速對樣品進行校準和測試，衍射峰位置的測量精度0.001°，用于計算機控制、在Windows窗口下可直接看到數據的采集和及時處理。
X射線衍射儀用途和原理
TD系列X射線衍射儀主要用于粉末、固體、類似糊狀材料或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結構分析、材料結構分析、晶體的取向性分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等。依據德拜-謝樂幾何原理，可獲得高精度測試結果，廣泛應用于從事地質、海洋、生物、化學、核反應站的實驗室，同時也應用于工業控制實驗室和高等院校的教育實驗室等。
粉末衍射法的基本原理是
一束單色的X射線入射到取向*任意的、數目很大的小晶體上，小晶體的尺寸大約為1~10µm。為減少擇優取向，通常多晶樣品是轉動的。假設晶體中有一點陣平面（hkl）滿足布拉格反射條件，入射線與（hkl）點陣平面構成θ角，其反射線與入射線的夾角則為2θ.由于小晶體的取向是任意的，每一組（hkl）平面的衍射線都形成相應以入射線為軸，頂角為4θ的圓錐面。凡是晶面間距大于λ/2（即sinθ<1的情況）、滿足布拉格反射條件的點陣平面組都可以獲得相應的衍射線錐面。所有的粉末X射線衍射的實驗方法都包括有X射線源和用于正確地記錄滿足布拉格定律的晶體衍射線的實驗裝置。
粉末衍射法的基本原理是
一束單色的X射線入射到取向*任意的、數目很大的小晶體上，小晶體的尺寸大約為1~10µm。為減少擇優取向，通常多晶樣品是轉動的。假設晶體中有一點陣平面（hkl）滿足布拉格反射條件，入射線與（hkl）點陣平面構成θ角，其反射線與入射線的夾角則為2θ.由于小晶體的取向是任意的，每一組（hkl）平面的衍射線都形成相應以入射線為軸，頂角為4θ的圓錐面。凡是晶面間距大于λ/2（即sinθ<1的情況）、滿足布拉格反射條件的點陣平面組都可以獲得相應的衍射線錐面。所有的粉末X射線衍射的實驗方法都包括有X射線源和用于正確地記錄滿足布拉格定律的晶體衍射線的實驗裝置。
