J200激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）是ASI公司傾力打造，始于1983年是美國進口型的激光誘導擊穿光譜儀，這款設備功能性比較齊全，硬件設施比較硬核，安全性能做的也比較到位，該儀器能夠監測具有分析意義的單個或多個元素，它專為處理的痕量元素分析而設計-那些需要高靈敏度和準確性的分析，可為每種分析情況提供*且合適的解決方案，固態鋰離子電池裝置深度剖面的激光誘導擊穿光譜分析（LIBS）。
應用須知：
1、使用激光誘導擊穿光譜法（LIBS）進行氟分析；
2、使用激光誘導擊穿光譜法（LIBS）對鋼進行定量分析；
3、使用J200 LIBS儀器快速監測原始鋰離子電池電極材料的成分；
4、應用Spectra的J200 LIBS建立法證玻璃分析的信心；
5、使用J200 LIBS儀器進行可重現的測量以實現可靠的質量控制；
6、使用激光誘導擊穿光譜法（LIBS）快速分析采礦樣品；
7、使用LIBS對半導體引線框架上的薄焊料鍍層進行快速鉛（Pb）分析。
設備優勢：
1、激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）進行植物分析；
2、激光誘導擊穿光譜法（LIBS）鑒別油漆樣品；
3、J200 LIBS儀器對紅寶石-沸石中的寶石進行化學成像；
4、LIBS用于土壤中的大量元素和微量元素分析；
5、LIBS對of鉭礦的地球化學指紋圖譜。
J200激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）在應用上面還是比較簡單快捷的，安裝特別的簡單，屬于易操作型，沒有復雜的操作流程，生產線操作員可以使用同一臺J200儀器簡單地運行準備好的測量配方以進行常規質量控制工作，或者實驗室科學家可以使用該J200儀器進行前沿的元素研究，通過對各種材料的不同干擾進行廣泛測試的證明，ASI的化學計量軟件包為我們的客戶增加了另一層次的分析能力，堅固的儀器設計確保了每個激光脈沖的可重復測量結果。
