紫外可見近紅外分光光度計
可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍，實現UV-Vis-NIR波段連續掃描，其應用領域廣泛，可測量固體／液體樣本在紫外-可見-近紅外范圍內的特征吸收；可研究玻璃鍍膜樣品吸收／透射或反射光譜；可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區的吸收譜圖，適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等等行業，是功能較強勁的光譜分析儀器。
簡單介紹
紫外可見近紅外分光光度計（UV-VIS-NIR）可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍，實現UV-Vis-NIR波段連續掃描，其應用領域廣泛，可測量固體／液體樣本在紫外-可見-近紅外范圍內的特征吸收；可研究玻璃鍍膜樣品吸收／透射或反射光譜；可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區的吸收譜圖，適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等等行業，是功能強勁的光譜分析儀器。
紫外可見近紅外分光光度計 的詳細介紹
儀器特點：
1. 采用經典的Czerny-Turner光學結構，其結構簡單、精度高、光譜分辨率良好；
2. 采用雙光柵、雙接收器的設計，保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區（UV-VIS-NIR）全波段的優勢；
3. 接收器件均為進口器件，保證了儀器的高性能和穩定度；
4. 儀器的控制（如光柵轉換、濾光片轉換、接收器轉換、波長掃描等）全部由計算機控制，接口為 USB2.0，儀器的連接簡單，*的提高了通訊速率；
5. 狹縫寬度7檔可選，分別是（0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm）。用戶可根據實際需要任意選擇。
6. 全中文操作軟件，功能選擇簡單、易懂。
規格參數：
工作波長范圍 | 190-2800nm |
掃描方式 | 透過率、吸光度、反射率、能量 |
波長準確度 | ±0.5nm（UV/VIS）;±8nm（NIR） |
波長重復性 | 0.3nm(UV/VIS)； ±4nm（NIR） |
采樣間隔 | 0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm |
光度范圍 | 0.300～2.5A |
光度準確度 | ±0.3%T（0-T） |
光度重復性 | 0.2%T |
基線平直度 | ±0.008A（200-2500nm，預熱30分鐘后） |
光譜帶寬 | 0.2nm-10nm |
雜散光 | ≤0.2%T（220nm） |
外形尺寸 | 830*600*260mm |
